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  • 19 05
    高精度膜厚仪检测

    傅里叶变换是白光频域解调方法中一种低精度的信号解调方法。早是由G.F.Fernando和T.Liu等人提出,用于低精度光纤法布里-珀罗传感器的解调。因此,该解调方案的原理是通过傅里叶变换得到频域的峰值频率从而获得光程差,进而得到待测物理量的信息。傅里叶变换解调方案的优点是解调速度较快,受干扰信号的影响较小。但是其测量精度较低。根据数字信号... 【查看详情】

  • 19 05
    高频光谱共焦的用途

    因为共焦测量方法具有高精度的三维成像能力,所以它已被用于表面轮廓和三维结构的精密测量。本文分析了白光共焦光谱的基本原理,建立了透明靶丸内表面圆周轮廓测量校准模型,并基于白光共焦光谱和精密旋转轴系,开发了透明靶丸内、外表面圆周轮廓的纳米级精度测量系统和靶丸圆心精密位置确定方法。使用白光共焦光谱测量靶丸壳层内表面轮廓数据时,其测量精度受到多个... 【查看详情】

  • 19 05
    点光谱共焦安装操作注意事项

    光谱共焦测量技术由于其高精度、允许被测表面有更大的倾斜角、快速测量方式、实时性高、对被测表面状况要求低、以及高分辨率的独特优势,迅速成为工业测量的热门传感器,在生物医学、材料科学、半导体制造、表面工程研究、精密测量、3C电子等领域得到大量应用。本次测量场景使用的是创视智能TS-C1200光谱共焦传感头和CCS控制器。TS-C系列光谱共焦位... 【查看详情】

  • 19 05
    薄膜干涉膜厚仪位移计

    白光干涉的相干原理早在1975年就已经被提出 ,随后于1976年在光纤通信领域中获得了实现。1983年,BrianCulshaw的研究小组报道了白光干涉技术在光纤传感领域中的应用。随后在1984年,报道了基于白光干涉原理的完整的位移传感系统。该研究成果证明了白光干涉技术可以被用于测量能够转换成位移的物理参量。此后的几年间,白光干涉应用于温... 【查看详情】

  • 19 05
    高速位移传感器成本价

    在特 殊领域,装备的精密定位和运动控制是至关重要的。为了确保武器装备的高精度和高可靠性,需要使用高精度的测量和控制系统。激光位移传感器作为一种高精度、高灵敏度的传感器,已经成为武器装备制造和维护中必不可少的工具。激光位移传感器可以测量武器装备的位置和位移,以及其运动状态、速度和加速度等动态参数。它可以在武器装备运动时实时测量其位置和位移变... 【查看详情】

  • 19 05
    纳米级膜厚仪行情

    薄膜作为一种特殊的微结构 ,近年来在电子学 、摩擦学、现代光学得到了广泛的应用,薄膜的测试技术变得越来越重要。尤其是在厚度这一特定方向上,尺寸很小,基本上都是微观可测量。因此,在微纳测量领域中,薄膜厚度的测试是一个非常重要而且很实用的研究方向。在工业生产中,薄膜的厚度直接关系到薄膜能否正常工作。在半导体工业中,膜厚的测量是硅单晶体表面热氧... 【查看详情】

  • 19 05
    膜厚仪主要功能与优势

    干涉法与分光光度法都是利用相干光形成等厚干涉条纹的原理来确定薄膜厚度和折射率 ,然而与薄膜自发产生的等倾干涉不同,干涉法是通过设置参考光路,形成与测量光路间的干涉条纹,因此其相位信息包含两个部分,分别是由参考平面和测量平面间扫描高度引起的附加相位和由透明薄膜内部多次反射引起的膜厚相位。干涉法测量光路使用面阵CCD接收参考平面和测量平面间相... 【查看详情】

  • 19 05
    国产膜厚仪厂家供应

    干涉测量法是一种基于光的干涉原理实现对薄膜厚度测量的光学方法,是一种高精度的测量技术,其采用光学干涉原理的测量系统具有结构简单、成本低廉、稳定性高、抗干扰能力强、使用范围广等优点。对于大多数干涉测量任务,都是通过分析薄膜表面和基底表面之间产生的干涉条纹的形状和分布规律,来研究待测物理量引入的光程差或位相差的变化,从而实现测量目的。光学干涉... 【查看详情】

  • 19 05
    高速位移传感器的精度

    随着科技的不断发展,对微小位移的测量需求也越来越高。尤其是在纳米科技领域,微小位移的测量对于研究物质的性质和行为至关重要。而激光位移传感器作为一种高精度 、高灵敏度的位移测量工具 ,被应用于微小位移的测量。在纳米科技中,激光位移传感器可以用于测量纳米级别的位移,例如材料的形变、振动和变形等。这些位移虽然微小,但对于材料的性质和行为研究却具... 【查看详情】

  • 19 05
    高速位移传感器常用知识

    随着科技的不断发展,对微小位移的测量需求也越来越高。尤其是在纳米科技领域,微小位移的测量对于研究物质的性质和行为至关重要。而激光位移传感器作为一种高精度 、高灵敏度的位移测量工具 ,被应用于微小位移的测量。在纳米科技中,激光位移传感器可以用于测量纳米级别的位移,例如材料的形变、振动和变形等。这些位移虽然微小,但对于材料的性质和行为研究却具... 【查看详情】

  • 19 05
    膜厚仪的精度

    基于表面等离子体共振传感的测量方案 ,利用共振曲线的三个特征参量—共振角、半高宽和反射率小值,通过反演计算得到待测金属薄膜的厚度。该测量方案可同时得到金属薄膜的介电常数和厚度,操作方法简单。我们利用Kretschmann型结构的表面等离子体共振实验系统,测得金膜在入射光波长分别为632.8nm和652.1nm时的共振曲线,由此得到金膜的厚... 【查看详情】

  • 18 05
    光谱共焦应用

    光谱共焦测量技术由于其高精度、允许被测表面有更大的倾斜角、测量速度快、实时性高、对被测表面状况要求低、以及高分辨率的独特优势,迅速成为工业测量的热门传感器,在生物医学、材料科学、半导体制造、表面工程研究、精密测量、3C电子等领域得到大量应用。本次测量场景使用的是创视智能TS-C1200光谱共焦传感头和CCS控制器。TS-C系列光谱共焦位移... 【查看详情】

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