光谱共焦测量技术由于其高精度、允许被测表面有更大的倾斜角、测量速度快、实时性高、对被测表面状况要求低以及高分辨率等特点,已成为工业测量的热门传感器,在生物医学、材料科学、半导体制造、表面工程研究、精密测量和3C电子等领域广泛应用。本次测量场景采用了创视智能TS-C1200光谱共焦传感头和CCS控制器。TS-C系列光谱共焦位移传感器能够实现... 【查看详情】
激光位移传感器在手机组装行业中也有着广泛的应用。在手机制造过程中,需要对各个组件进行精确的测量,以确保其质量和可靠性。其中,激光位移传感器可以应用于段差测量。通过将激光发射光束投射到被测组件表面,利用漫反射效应接收反射光并将光信号转换为电信号输出,从而获取被测组件的位移信息。通过使用激光位移传感器进行段差测量,可以快速、准确地检测出组件间... 【查看详情】
激光位移传感器是一种常见的工业生产中使用的精密测量设备。它通过使用激光束来测量目标物体与传感器之间的距离,并将其转化为电信号输出。激光位移传感器具有高精度和快速响应的特点,可以在工业生产过程中广泛应用。例如,在自动化装配线中,激光位移传感器可以用于测量零件的尺寸和位置,以确保装配的准确性和一致性 。此外 ,激光位移传感器还可以应用于机械加... 【查看详情】
自上世纪60年代起 ,利用X及β射线、近红外光源开发的在线薄膜测厚系统广泛应用于西方先进国家的工业生产线中。20世纪70年代后,为满足日益增长的质检需求,电涡流、电磁电容、超声波、晶体振荡等多种膜厚测量技术相继问世。90年代中期,随着离子辅助、离子束溅射、磁控溅射、凝胶溶胶等新型薄膜制备技术取得巨大突破,以椭圆偏振法和光度法为展示的光学... 【查看详情】
光谱共焦测量原理通过使用多透镜光学系统将多色白光聚焦到目标表面来工作。透镜的排列方式是通过控制色差(像差)将白光分散成单色光。工厂校准为每个波长分配了一定的偏差(特定距离)。只有精确聚焦在目标表面或材料上的波长才能用于测量。从目标表面反射的这种光通过共焦孔径到达光谱仪,该光谱仪检测并处理光谱变化。漫反射表面和镜面反射表面都可以使用共焦彩色... 【查看详情】
光谱共焦传感器使用复色光作为光源,可以达到微米级精度,并具备对漫反射或镜反射被测物体的测量功能。此外,光谱共焦位移传感器还可以实现对透明物体的单向厚度测量,其光源和接收光镜为同轴结构,避免光路遮挡,适用于直径4.5mm及以上的孔和凹槽的内部结构测量。在测量透明物体的位移时,由于被测物体的上下两个表面都会反射,而传感器接收到的位移信号是通过... 【查看详情】
光谱共焦位移传感器在金属内壁轮廓扫描测量中具有大量的应用,以下是几种典型应用:尺寸测量利用光谱共焦位移传感器可以精确地测量金属内壁的尺寸,如直径、圆度等。通过测量内壁不同位置的直径,可以评估内壁的形变和扭曲程度,进而评估加工质量。表面形貌测量光谱共焦位移传感器可以高精度地测量金属内壁的表面形貌,如粗糙度、峰谷分布等。通过对表面形貌数据进行... 【查看详情】