浙江GEN3测试系统定制

杭州国磊半导体设备有限公司GM8800多通道绝缘电阻测试系统是专为电子制造业可靠性验证而打造的精良工具。该系统支持16至256个通道的灵活配置，实现大规模样品并行加速测试，其电阻检测能力覆盖10^4~10^14Ω，测量精度严格控制，能够满足国际标准如IPC-TM-650 2.6.25对CAF测试的严苛要求。GM8800提供精确可编程的电压输出，内置±100V精密电源，外接偏置电压比较高3000V，电压控制精度高，切换速度快，且测试电压稳定时间可根据材料特性在1~600秒间精确设置。系统集成高精度电流传感和环境温湿度监测，实时采集所有关键参数，并通过完全屏蔽的低噪声测量架构保障数据真实性。配套软件功能强大，提供自动化测试流程、数据可视化、趋势分析、报警设置、报告生成及远程控制功能。在系统可靠性方面，设计了***的硬件与软件报警机制和UPS断电保护选项。相较于英国GEN3等进口品牌，GM8800在**测试性能上达到同等***水平，同时拥有更优的通道经济性、更低的综合持有成本和更迅捷的本土技术服务，已成为国内**的PCB厂商、半导体封装厂、新能源车企及科研机构进行绝缘材料研究、工艺评价和质量控制的信赖之选，助力中国智造迈向高可靠性时代。GM8800是进行PCB板CAF（导电阳极丝）测试的理想选择！浙江GEN3测试系统定制

杭州国磊半导体设备有限公司依据市场需求开发出GM8800多通道绝缘电阻/导电阳极丝（CAF）测试系统。该系统以其***的256通道并行测试能力、高达10^14Ω的电阻测量上限、1V至3000V的宽范围可编程偏置电压以及优于±3%~±10%的测量精度，树立了国产高阻测试设备的新**。GM8800的设计充分考虑了实际应用的多样性与复杂性，提供1~600分钟可自由设定的测试间隔、长达9999小时的持续测试能力、***的故障报警机制（涵盖低阻、停机、温湿度、电压越限、AC断电、软件异常等）以及30/60/120分钟可选的UPS断电保护，确保无人值守长期测试的可靠性与数据完整性。其配套软件功能强大，不仅实现多参数实时采集与显示，更具备深度数据分析和远程监控能力，支持用户通过网络进行跨平台访问与控制。相较于国际**品牌如英国GEN3的同类产品，GM8800在保持同等甚至更优技术指标的同时，提供了极具市场竞争力的价格和快速响应的本土化技术支持与服务，极大地降低了用户的购置成本和运维门槛，广泛应用于集成电路封装、PCB制造、新能源车辆电控系统、储能设备绝缘评估、**消费电子以及医疗电子等领域，是助力中国企业提升产品质量、实现供应链安全与国产化替代的战略性装备。杭州国磊SIR测试系统批发支持远程监控，让您随时随地掌握测试进程。

AISoC的NPU模块不**需要功能验证，更需精确的参数测试与功耗评估。国磊GT600测试机配备每通道PPMU，可实现nA级静态电流（IDDQ）测量，**识别AI芯片在待机、低功耗模式下的漏电异常。其可选配高精度浮动SMU板卡，支持多电源域**供电与电流监测，用于验证DVFS（动态电压频率调节）和电源门控（PowerGating）策略的有效性。此外，国磊GT600测试机的GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率，可精确测量NPU唤醒延迟、中断响应时间等关键时序参数，确保AI任务的实时性与响应速度。

HBM接口动辄上千个高速信号引脚，数据速率高达Gbps级别，对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置，从容应对HBM接口的高并发、高速逻辑测试需求。其128M向量存储深度可完整运行复杂协议测试Pattern，确保功能覆盖无遗漏。更关键的是，GT600支持512Sites高并行测试，大幅提升测试吞吐量，**降低AI芯片的单颗测试成本。在HBM驱动的算力**中，GT600不**是测试工具，更是提升国产AI芯片量产效率与市场竞争力的**引擎。国磊GT600SoC测试机通过加载Pattern，验证SoC逻辑（如CPU、NPU、DSP）的功能正确性与逻辑测试及向量测试。

面对国产手机芯片动辄数千万乃至上亿颗的年出货量，传统“单颗或小批量测试”模式早已无法满足产能与成本需求。国磊GT600凭借512站点并行测试能力，开创“集体考试”新模式——512颗芯片同步上电、同步输入测试向量、同步采集响应、同步判定Pass/Fail，测试效率呈指数级提升。这不仅将单位时间产出提高数十倍，更大幅缩短新品从试产到大规模铺货的周期，抢占市场先机。更重要的是，测试成本（CostofTest）是芯片总成本的重要组成部分。据半导体行业经验数据，同测数（ParallelTestSites）每翻一倍，单颗芯片测试成本可下降30%~40%。国磊GT600的512站点能力，相较传统32或64站点设备，成本降幅可达70%以上，为国产手机SoC在激烈市场竞争中赢得价格优势。国磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一体架构，构建起支撑国产**芯片量产的“超级测试流水线”，可以让中国芯不仅“造得出”，更能“测得快、卖得起、用得稳”。国磊GT600多通道浮动SMU设计，支持多电源域模拟芯片（如多路电源管理IC）的单一电压施加与电流监测。无锡CAF测试系统工艺

实时电流监测与快速数据采集，完整掌握电化学反应过程。浙江GEN3测试系统定制

杭州国磊半导体设备有限公司自主研发推出CAF测试系统GM8800。系统集成±100V内置电源与3000V外置高压模块，采用三段式步进电压技术：0-100V区间0.01V微调、100-500V步进0.1V、500-3000V步进1V。电压精度达±0.05V（1-100VDC），结合100V/2ms超快上升速度，精细模拟电动汽车电控浪涌冲击。1MΩ保护电阻与1-600秒可编程稳定时间，有效消除容性负载误差。测试范围覆盖10⁴-10¹⁴Ω，其中10¹⁴Ω极限测量精度±10%，为SiC功率模块提供实验室级绝缘验证方案。浙江GEN3测试系统定制