光电测试系统相关图片
  • 上海光电测试系统作用,光电测试系统
  • 上海光电测试系统作用,光电测试系统
  • 上海光电测试系统作用,光电测试系统
光电测试系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • LAFT;DT;SIM,热成像光电测试系统
  • 产地
  • 上海
光电测试系统企业商机

OPO测试系统为计算机化的系统,用于对被测望远瞄准系统生成的参考图像进行分析。OPO测试系统由以下模块组成:TG-OP目标发生器,CTG控制器,一组靶标,一组圆孔,CPO10100投射式平行光管,MP-A机械平台,MP-B机械平台,MP-C平台,DPM66屈光度计,计算机,图像采集卡,一组孔径调节器以及TOPO测试软件。

产品参数如下

表1被测光学系统范围

参数:数值

入射口径范围:10-60mm

出射口径范围:2-60mm

放大率范围:-30x

表2测试调节范围

参数:数值

模拟距离50m,100m,200m,250m,300m,400m,600m,∞

离轴角范围:0°-30°


光电系统,应用于电梯维护,确保运行安全。上海光电测试系统作用

上海光电测试系统作用,光电测试系统

SIM简易热像仪测试系统是一款经济、实用的手动切换靶标的图像投影系统,由5个模块组成:标准品质的CDT离轴反射式光管(不适用于长程热像仪),NSB40黑体,CNSB控制器,TP2靶标槽和一组红外靶标。SIM一般投射两种类型的目标的图像:a)十字靶标的图像(可提供两种尺寸),b)USAF951年靶标的图像。CNSB控制器可控制NSB黑体的温度,从而调节投影图像的热对比度。由于NSB40中不是一个稳定的黑体,用户可以调节温度,但温度不稳定,且不能准确测量(提供相对指示)。上海光电测试系统作用光电技术,为智能交通系统提供可靠信号检测。

上海光电测试系统作用,光电测试系统

Inframet MTB面源黑体有优异的温度分辨率,时间稳定性,很高的温度均匀性和优异的温度精度。 所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

主要特性

高分辨率的温度调节(0.01ºC,优于市场上其他的黑体,通常这些黑体分辨率为0.1ºC);非常好的时间稳定性(0.1ºC,优于市场上提供的其他黑体,通常为0.5ºC);良好的温度均匀性(1ºC@125ºC,市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm);所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。

SWIR相机(短波红外) 是重要的监控用光电相机。首先,InGaAs技术的发展与成熟促进了低成本短波红外相机的发展;其次,InGaAs相机在非常暗的夜晚会非常灵敏因此可以生成更为清晰的图像;再次,工作在可见光/近红外波段的短波红外相机相比与TV/LLLTV相机来说在不洁净的空气环境中不容易损坏;另外,短波红外相机比起红外热像仪来说在使用小光学系统可以生成更高分辨率的图像。

短波红外相机与TV/LLLTV相机原理类似,也是利用被观察的目标产生的辐射反射来获取图像。同时,短波红外相机也可以利用被测试目标产生的热辐射生成与红外热像仪类似的图像。根据以上功能描述,短波红外相机的测试可以依据测试TV/LLLTV相机原理或者根据红外热像仪测试原理进行。InGaAs FPAs的参数也可以用来表征短波红外相机。 明策精细光电技术,保障光伏产业高效能测试。

上海光电测试系统作用,光电测试系统

红外靶标用于测试红外成像系统(热像仪)的红外靶标是通过在金属薄板上加工不同图形的孔而形成不同的靶标。当黑体照射靶标时,被测试的热像仪会观察到在均匀背景下的边界锐利的靶标图形,靶标的温度等同于黑体的温度,我们的用于测试红外热像仪的DT/MS系统采用了一系列相对小尺寸的靶标(直径54mm)用于匹配MRRW-8旋转靶轮,相对大尺寸的红外靶标用于LAFT测试系统。

靶标精度:a)±0.012mm,靶标孔**小尺寸大于0.125mm。b)±10**,靶标孔**小尺寸小于0.125mm。c)±0.001mm,针对刀口靶标线性度(用于MTF测量)。

Inframet提供了14种不同类型的标准红外靶标:注意:Inframet标准靶标的有效区域(高发射率涂层覆盖的区域)直径为54mm,Inframet靶标的机械尺寸适用于标准MRW-8靶轮。Inframet可以提供匹配任意生产商制造的靶轮的匹配靶标。 Inframet MS多传感器测试系统,助力石化行业安全生产。上海光电测试系统作用

INFRAMET SAFT 热成像光电测试系 统,全系统守护各行各业质量关卡。上海光电测试系统作用

 ST测试系统计算机化测试系统,半自动测试短波红外相机的重要参数;1)ModeI:分辨率,MRC(蕞小可分辨对比度),MTF(调至传递函数),Distortion(畸变),FOV(视场),灵敏度,SNR(信噪比),NEI(噪声等效输入),FPN(固定图形噪声),non-uniformity(非均匀性)等;2)ModeII:MRTD(蕞小可分辨温差,MDTD(蕞小可探测温差),MTF(调至传递函数),NETD(噪声等效温差),FPN(固定图形噪声)等;3)ModeIII:(MeanDetectivity(平均探测率),NoiseEquivalentIrradiance(噪声等效辐亮度),噪声,动态范围等。上海光电测试系统作用

与光电测试系统相关的**
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责