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光电测试系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • LAFT;DT;SIM,热成像光电测试系统
  • 产地
  • 上海
光电测试系统企业商机

可见光靶标主要分为两类:A)反射式靶标,B)透射式靶标。反射式靶标无法提供高精度的靶标图形因此只能用于可见光成像系统简单的评估测试。透射式靶标的精度可以达到次微米级,通常采用在干净的玻璃基板上光刻的方法而得到。Inframet采用USAF 1951靶标,其具备很好的通用性,既支持低分辨率相机测试,也同时支持高分辨率相机测试。

产品参数:

参数:数值

图案类型:3杆

图案组数:0到7(可选0-8)

空间频率范围:1-228lp/mm(可选1-456lp/mm)

对比度:百分之二到100%

基板:钠钙玻璃(可选石英)

图形镀膜:铬

靶标板尺寸:23x23mm INFRAMET SAFT 热成像光电测试系 统,全系统守护各行各业质量关卡。海南光电测试系统哪个好

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SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置,所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。

主要特性

通用的设备,可在实验室或者一般的现场使用。对被测热像仪的光学口径没有限制。SAFT设备和被测热像仪的距离须大于所测热像仪的小聚焦距离。

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置,所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距,小口径,宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时,我们也提供额外的折射光管供客户选择。 上海明策光电测试系统工作原理光电测试系统,助力LED照明品质提升。

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Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(只需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。

Inframet使用三个等级的离轴反射镜面:SR(标准分辨率)-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。HR(高分辨率)-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm(典型λ/10)。UR(超高分辨率)-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。SQ(极高分辨率)-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。

TCB是由黑体发射器集成控制器电路构建的电脑化的黑体。TCB黑体作为单一模块交付使用。用户只需连接两根标准电缆(电源和RS232电缆),就可以从PC控制黑体。

该解决方案提高了TCB黑体更高的可靠性,对电磁干扰的抵抗力,并简化了其操作。TCB黑体有一系列版本供用户选择使用。有两个重点参数指标:黑体发射面的大小和温度范围。

发射面尺寸由黑体代码:TCB-XD表示,其中X是发射面平方的近似尺寸,单位为英寸。

通常提供以下型号:TCB-2D,TCB-4D,TCB-6D,TCB-8D,TCB-12D,TCB-14D。在标准版本中,这些黑体温度范围从0℃至100℃进行了优化。 JT400多传感器轴对准测试系统,保障电子元件性能稳定。

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InframetLS-SAL多通道宽波段可见光-短波红外光源适用于VIS-SWIR相机,有五种工作模式:1)色温是2856K的卤素,适用于VIS-SWIR波段;2)色温超过5000K的白色宽带LED,适用于可见光;3)混合模式,卤素灯和白色宽带LED按照一定光强比例工作;4)校准单色1550nm光源;5)校准短波红外光源。其次,LS-SAL光源配备一套滤波片,当工作在卤素灯模式时,可用于选择所需的波段。

基础工作模式

①卤素灯-无滤光片②可见光LED③混合模式,卤素灯和白色宽带LED④带1550nm窄带滤光片的卤素灯⑤只带短波红外滤光片的卤素灯 Inframet NVS 夜视设备多功能测试 系统,助力航空航天器热防护系统测试。模拟器光电测试系统服务价格

Inframet DT 热成像光电测试系统,精细分析,助力医疗行业技术革新。海南光电测试系统哪个好

 ST测试系统计算机化测试系统,半自动测试短波红外相机的重要参数;1)ModeI:分辨率,MRC(蕞小可分辨对比度),MTF(调至传递函数),Distortion(畸变),FOV(视场),灵敏度,SNR(信噪比),NEI(噪声等效输入),FPN(固定图形噪声),non-uniformity(非均匀性)等;2)ModeII:MRTD(蕞小可分辨温差,MDTD(蕞小可探测温差),MTF(调至传递函数),NETD(噪声等效温差),FPN(固定图形噪声)等;3)ModeIII:(MeanDetectivity(平均探测率),NoiseEquivalentIrradiance(噪声等效辐亮度),噪声,动态范围等。海南光电测试系统哪个好

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