电子束曝光在超导量子比特制造中实现亚微米约瑟夫森结的精确布局。通过100kV加速电压的微束斑（<2nm）在铌/铝异质结构上直写量子干涉器件，结区尺寸控制精度达±3nm。采用多层PMMA胶堆叠技术配合低...

在电子束曝光工艺优化方面，研究所聚焦曝光效率与图形质量的平衡问题。针对传统电子束曝光速度较慢的局限，科研人员通过分区曝光策略与参数预设方案，在保证图形精度的前提下，提升了 6 英寸晶圆的曝光效率。利用...

LPCVD设备中的工艺参数之间是相互影响和相互制约的，不能单独考虑或调节。例如，反应温度、压力、流量、种类和比例都会影响反应速率和沉积速率，而沉积速率又会影响薄膜的厚度和时间。因此，为了得到理想的薄膜...

栅极氧化介电层除了纯二氧化硅薄膜，也会用到氮氧化硅作为介质层，之所以用氮氧化硅来作为栅极氧化介电层，一方面是因为跟二氧化硅比，氮氧化硅具有较高的介电常数，在相同的等效二氧化硅厚度下，其栅极漏电流会降低...

电子束曝光中的新型抗蚀剂如金属氧化物（氧化铪）正面临性能挑战。其高刻蚀选择比（硅:100:1）但灵敏度为10mC/cm²。研究通过铈掺杂和预曝光烘烤（180°C/2min）提升氧化铪胶灵敏度至1mC/...

首先，通过一个电子枪生成一个高能电子束。电子枪一般包括一个发射电子的热阴极（通常是加热的钨丝）和一个加速电子的阳极。电子枪的工作是通过电场和磁场将电子束引导并加速到目标材料。电子束撞击目标材料，将其能...

高频淀积的薄膜，其均匀性明显好于低频，这时因为当射频电源频率较低时，靠近极板边缘的电场较弱，其淀积速度会低于极板中心区域，而频率高时则边缘和中心区域的差别会变小。4.射频功率，射频的功率越大离子的轰击...

在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器...

在电子束曝光与材料外延生长的协同研究中，科研团队探索了先曝光后外延的工艺路线。针对特定氮化物半导体器件的需求，团队在衬底上通过电子束曝光制备图形化掩模，再利用材料外延平台进行选择性外延生长，实现了具有...

蒸发物质的分子被电子撞击后沉积在固体表面称为离子镀。蒸发源接阳极，工件接阴极，当通以三至五千伏高压直流电以后，蒸发源与工件之间产生辉光放电。由于真空罩内充有惰性氩气，在放电电场作用下部分氩气被电离，从...

电介质在集成电路中主要提供器件、栅极和金属互连间的绝缘，选择的材料主要是氧化硅和氮化硅等。氧化硅薄膜可以通过热氧化、化学气相沉积和原子层沉积法的方法获得。如果按照压力来区分的话，热氧化一般为常压氧化工...

研究所将电子束曝光技术应用于 IGZO 薄膜晶体管的沟道图形制备中，探索其在新型显示器件领域的应用潜力。IGZO 材料对曝光过程中的电子束损伤较为敏感，科研团队通过控制曝光剂量与扫描方式，减少电子束与...