针对晶圆键合过程中的气泡缺陷问题，科研团队开展了系统研究，分析气泡产生的原因与分布规律。通过高速摄像技术观察键合过程中气泡的形成与演变，发现气泡的产生与表面粗糙度、压力分布、气体残留等因素相关。基于这些发现，团队优化了键合前的表面处理工艺与键合过程中的压力施加方式，在实验中有效减少了气泡的数量与尺寸。在 6 英寸晶圆的键合中，气泡率较之前降低了一定比例，明显提升了键合质量的稳定性。这项研究解决了晶圆键合中的一个常见工艺难题，为提升技术成熟度做出了贡献。晶圆键合为虚拟现实系统提供高灵敏触觉传感器集成方案。天津阳极晶圆键合技术
针对晶圆键合过程中的表面预处理环节，科研团队进行了系统研究，分析不同清洁方法对键合效果的影响。通过对比等离子体清洗、化学腐蚀等方式，观察晶圆表面的粗糙度与污染物残留情况，发现适当的表面活化处理能明显提升键合界面的结合强度。在实验中，利用原子力显微镜可精确测量处理后的表面形貌，为优化预处理参数提供量化依据。研究还发现，表面预处理的均匀性对大面积晶圆键合尤为重要，团队据此改进了预处理设备的参数分布，使 6 英寸晶圆表面的活化程度更趋一致。这些细节上的优化，为提升晶圆键合的整体质量奠定了基础。上海金属晶圆键合技术利用多平台协同优势，测试晶圆键合后材料热导率的变化情况。
晶圆键合赋能红外成像主要组件升级。锗硅异质界面光学匹配层实现3-14μm宽波段增透，透过率突破理论极限达99%。真空密封腔体抑制热噪声，噪声等效温差压至30mK。在边境安防系统应用中，夜间识别距离提升至5公里，误报率下降85%。自对准结构适应-55℃～125℃极端温差，保障西北高原无人巡逻装备全年运行。创新吸杂层设计延长探测器寿命至10年。量子计算芯片键合突破低温互连瓶颈。超导铝-硅量子阱低温冷焊实现零电阻互联，量子态退相干时间延长至200μs。离子束抛光界面使量子比特频率漂移小于0.01%。谷歌72比特处理器实测显示，双量子门保真度99.92%，量子体积提升100倍。氦气循环冷却系统与键合结构协同，功耗降低至传统方案的1/100。模块化设计支持千级比特扩展。
该研究所在晶圆键合与外延生长的协同工艺上进行探索，分析两种工艺的先后顺序对材料性能的影响。团队对比了先键合后外延与先外延后键合两种方案，通过材料表征平台分析外延层的晶体质量与界面特性。实验发现，在特定第三代半导体材料的制备中，先键合后外延的方式能更好地控制外延层的缺陷密度，而先外延后键合则在工艺灵活性上更具优势。这些发现为根据不同器件需求选择合适的工艺路线提供了依据，相关数据已应用于多个科研项目中，提升了半导体材料制备的工艺优化效率。晶圆键合为深空探测提供宇宙尘埃原位捕集与分析一体化芯片。
围绕晶圆键合技术的标准化建设，该研究所联合行业内行家开展相关研究。作为中国有色金属学会宽禁带半导体专业委员会倚靠单位，其团队参与了多项行业标准的研讨，针对晶圆键合的术语定义、测试方法等提出建议。在自身研究实践中，团队总结了不同材料组合、不同尺寸晶圆的键合工艺参数范围，形成了一套内部技术规范，为科研人员提供参考。同时，通过与其他科研机构的合作交流，分享键合过程中的质量控制经验，推动行业内工艺水平的协同提升。这些工作有助于规范晶圆键合技术的应用，促进其在半导体产业中的有序发展。晶圆键合为超构光学系统提供多材料宽带集成方案。辽宁热压晶圆键合代工
晶圆键合推动无创脑血流监测芯片的光声功能协同集成。天津阳极晶圆键合技术
在晶圆键合技术的多材料体系研究中，团队拓展了研究范围，涵盖了从传统硅材料到第三代半导体材料的多种组合。针对每种材料组合，科研人员都制定了相应的键合工艺参数范围，并通过实验验证其可行性。在氧化物与氮化物的键合研究中，发现适当的表面氧化处理能有效提升界面的结合强度；而在金属与半导体的键合中，则需重点控制金属层的扩散行为。这些研究成果形成了一套较为多维的多材料键合技术数据库，为不同领域的半导体器件研发提供了技术支持，体现了研究所对技术多样性的追求。天津阳极晶圆键合技术
