在电子束曝光的三维结构制备研究中，科研团队探索了灰度曝光技术的应用。灰度曝光通过控制不同区域的电子束剂量，可在抗蚀剂中形成连续变化的高度分布，进而通过刻蚀得到三维微结构。团队利用该技术在氮化物半导体表面制备了具有渐变折射率的光波导结构，测试结果显示这种结构能有效降低光传输损耗。这项技术突破拓展了电子束曝光在复杂三维器件制备中的应用，为集成光学器件的研发提供了新的工艺选择。针对电子束曝光在第三代半导体中试中的成本控制问题，科研团队进行了有益探索。电子束曝光助力该所在深紫外发光二极管领域突破微纳制备瓶颈。套刻电子束曝光厂商
研究所利用电子束曝光技术制备微纳尺度的热管理结构，探索其在功率半导体器件中的应用。功率器件工作时产生的热量需快速散出，团队通过电子束曝光在器件衬底背面制备周期性微通道结构，增强散热面积。结合热仿真与实验测试，分析微通道尺寸与排布方式对散热性能的影响，发现特定结构的微通道能使器件工作温度降低一定幅度。依托材料外延平台，可在制备散热结构的同时保证器件正面的材料质量，实现散热与电学性能的平衡，为高功率器件的热管理提供了新解决方案。套刻电子束曝光厂商人才团队利用电子束曝光技术研发新型半导体材料。
针对柔性衬底上的电子束曝光技术，研究所开展了适应性研究。柔性半导体器件的衬底通常具有一定的柔韧性，可能影响曝光过程中的晶圆平整度，科研团队通过改进晶圆夹持装置，减少柔性衬底在曝光时的变形。同时，调整电子束的扫描速度与聚焦方式，适应柔性衬底表面可能存在的微小起伏，在聚酰亚胺衬底上实现了微米级图形的稳定制备。这项研究拓展了电子束曝光技术的应用场景，为柔性电子器件的高精度制造提供了技术支持。科研团队在电子束曝光的缺陷检测与修复技术上取得进展。曝光过程中可能出现的图形断线、短路等缺陷，会影响器件性能，团队利用自动光学检测系统对曝光后的图形进行快速扫描，识别缺陷位置与类型。
研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的曝光均匀性。利用原子力显微镜对晶圆不同区域的图形进行表征，结果显示优化后的工艺使边缘与中心的线宽偏差控制在较小范围内。这项研究提升了电子束曝光技术在大面积器件制备中的适用性，为第三代半导体中试生产中的批量一致性提供了保障。电子束刻蚀实现声学超材料宽频可调谐结构制造。
磁存储器技术通过电子束曝光实现密度与能效突破。在垂直磁各向异性薄膜表面制作纳米盘阵列，直径20nm下仍保持单畴磁结构。特殊设计的边缘畴壁锁定结构提升热稳定性300%，使存储单元临界尺寸突破5nm物理极限。在存算一体架构中，自旋波互连网络较传统铜互连功耗降低三个数量级，支持神经网络权重实时更新。实测10层Transformer模型推理能效比达50TOPS/W，较GPU方案提升100倍。电子束曝光赋能声学超材料实现频谱智能管理。通过变周期亥姆霍兹共振腔阵列设计，在0.5mm薄层内构建宽频带隙结构。梯度渐变阻抗匹配层消除声波界面反射，使200-5000Hz频段吸声系数＞0.95。在高速列车风噪控制中，该材料使车厢内声压级从85dB降至62dB，语音清晰度指数提升0.45。自适应变腔体技术配合主动降噪算法，实现工况环境下的实时频谱优化。电子束刻合为虚拟现实系统提供高灵敏触觉传感器集成方案。山西量子器件电子束曝光厂商
电子束刻蚀为量子离子阱系统提供高精度电极阵列。套刻电子束曝光厂商
在电子束曝光与材料外延生长的协同研究中，科研团队探索了先曝光后外延的工艺路线。针对特定氮化物半导体器件的需求，团队在衬底上通过电子束曝光制备图形化掩模，再利用材料外延平台进行选择性外延生长，实现了具有特定形貌的半导体 nanostructure。研究发现，曝光图形的尺寸与间距会影响外延材料的晶体质量，通过调整曝光参数可调控外延层的生长速率与形貌，目前已在纳米线阵列的制备中获得了较为均匀的结构分布。研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的曝光均匀性。套刻电子束曝光厂商
