研究所利用人才团队的技术优势，在电子束曝光的反演光刻技术上取得进展。反演光刻通过计算机模拟优化曝光图形，可补偿工艺过程中的图形畸变，科研人员针对氮化物半导体的刻蚀特性，建立了曝光图形与刻蚀结果的关联模型。借助全链条科研平台的计算资源，团队对复杂三维结构的曝光图形进行模拟优化，在微纳传感器的腔室结构制备中，使实际图形与设计值的偏差缩小了一定比例。这种基于模型的工艺优化方法，为提高电子束曝光的图形保真度提供了新思路。电子束刻合为虚拟现实系统提供高灵敏触觉传感器集成方案。光栅电子束曝光加工
对于可修复的微小缺陷，通过局部二次曝光的方式进行修正，提高了图形的合格率。在 6 英寸晶圆的中试实验中，这种缺陷修复技术使无效区域的比例降低了一定程度，提升了电子束曝光的材料利用率。研究所将电子束曝光技术与纳米压印模板制备相结合，探索低成本大规模制备微纳结构的途径。纳米压印技术适合批量生产，但模板制备依赖高精度加工手段，团队通过电子束曝光制备高质量的原始模板，再通过电铸工艺复制得到可用于批量压印的工作模板。对比电子束直接曝光与纳米压印的图形质量，发现两者在微米尺度下的精度差异较小，但压印效率更高。这项研究为平衡高精度与高效率的微纳制造需求提供了可行方案，有助于推动第三代半导体器件的产业化进程。吉林精密加工电子束曝光加工该所承担的省级项目中，电子束曝光用于芯片精细图案制作。
针对电子束曝光在教学与人才培养中的作用，研究所利用该技术平台开展实践培训。作为拥有人才团队的研究机构，团队通过电子束曝光实验课程，培养研究生与青年科研人员的微纳加工技能，让学员参与从图形设计到曝光制备的全流程操作。结合第三代半导体器件的研发项目，使学员在实践中掌握曝光参数优化与缺陷分析的方法，为宽禁带半导体领域培养了一批具备实际操作能力的技术人才。研究所展望了电子束曝光技术与第三代半导体产业发展的结合前景，制定了中长期研究规划。随着半导体器件向更小尺寸、更高集成度发展，电子束曝光的纳米级加工能力将发挥更重要作用，团队计划在提高曝光速度、拓展材料适用性等方面持续攻关。结合省级重点科研项目的支持，未来将重点研究电子束曝光在量子器件、高频功率器件等领域的应用，通过与产业界的深度合作，推动科研成果向实际生产力转化，助力广东半导体产业的技术升级。
围绕电子束曝光的套刻精度控制，科研团队开展了系统研究。在多层结构器件的制备中，各层图形的对准精度直接影响器件性能，团队通过改进晶圆定位系统与标记识别算法，将套刻误差控制在较小范围内。依托材料外延平台的表征设备，可精确测量不同层间图形的相对位移，为套刻参数的优化提供量化依据。在第三代半导体功率器件的研发中，该技术确保了源漏电极与沟道区域的精细对准，有效降低了器件的接触电阻，相关工艺参数已纳入中试生产规范。电子束曝光推动环境微能源采集器的仿生学设计与性能革新。
电子束曝光在超导量子比特制造中实现亚微米约瑟夫森结的精确布局。通过100kV加速电压的微束斑（<2nm）在铌/铝异质结构上直写量子干涉器件，结区尺寸控制精度达±3nm。采用多层PMMA胶堆叠技术配合低温蚀刻工艺，有效抑制涡流损耗，明显提升量子比特相干时间至200μs以上，为量子计算机提供主要加工手段。MEMS陀螺仪谐振结构的纳米级质量块制作依赖电子束曝光。在SOI晶圆上通过双向剂量调制实现复杂梳齿电极（间隙<100nm），边缘粗糙度<1nmRMS。关键技术包括硅深反应离子刻蚀模板制作和应力释放结构设计，谐振频率漂移降低至0.01%/℃，广泛应用于高精度惯性导航系统。电子束刻蚀实现声学超材料宽频可调谐结构制造。黑龙江光掩模电子束曝光代工
电子束曝光支持量子材料的高精度电极制备和原子级结构控制。光栅电子束曝光加工
在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器件电学性能的影响。在 IGZO 薄膜晶体管的研究中，优化后的曝光与注入工艺使器件的沟道导电性调控精度得到提升，为器件性能的精细化调节提供了可能。这项研究展示了电子束曝光在半导体掺杂工艺中的关键作用。通过汇总不同科研机构的工艺数据，分析电子束曝光关键参数的合理范围，为制定行业标准提供参考。在内部研究中，团队已建立一套针对第三代半导体材料的光栅电子束曝光加工
