在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器件电学性能的影响。在 IGZO 薄膜晶体管的研究中，优化后的曝光与注入工艺使器件的沟道导电性调控精度得到提升，为器件性能的精细化调节提供了可能。这项研究展示了电子束曝光在半导体掺杂工艺中的关键作用。通过汇总不同科研机构的工艺数据，分析电子束曝光关键参数的合理范围，为制定行业标准提供参考。在内部研究中，团队已建立一套针对第三代半导体材料的电子束曝光能制备超高深宽比X射线光学元件以突破成像分辨率极限。光芯片电子束曝光外协
利用高分辨率透射电镜观察，发现量子点的位置偏差可控制在较小范围内，满足量子器件的设计要求。这项研究展示了电子束曝光技术在量子信息领域的应用潜力，为构建高精度量子功能结构提供了技术基础。围绕电子束曝光的环境因素影响，科研团队开展了系统性研究。温度、湿度等环境参数的波动可能影响电子束的稳定性与抗蚀剂性能，团队通过在曝光设备周围建立恒温恒湿环境控制单元，减少了环境因素对曝光精度的干扰。对比环境控制前后的图形制备结果，发现线宽偏差的波动范围缩小了一定比例，图形的长期稳定性得到改善。这些细节上的改进，体现了研究所对精密制造过程的严格把控，为电子束曝光技术的可靠应用提供了保障。重庆光栅电子束曝光加工电子束曝光为新型光伏器件构建高效陷光结构以提升能源转化效率。
科研团队在电子束曝光的抗蚀剂选择与处理工艺上进行了细致研究。不同抗蚀剂对电子束的灵敏度与分辨率存在差异，团队针对第三代半导体材料的刻蚀需求，测试了多种正性与负性抗蚀剂的性能，筛选出适合氮化物刻蚀的抗蚀剂类型。通过优化抗蚀剂的涂胶厚度与前烘温度，减少了曝光过程中的气泡缺陷，提升了图形的完整性。在中试规模的实验中，这些抗蚀剂处理工艺使 6 英寸晶圆的图形合格率得到一定提升，为电子束曝光技术的稳定应用奠定了基础。
量子点显示技术借力电子束曝光突破色彩转换瓶颈。在InGaN蓝光晶圆表面构建光学校准微腔，精细调控量子点受激辐射波长。多层抗蚀剂工艺形成倒金字塔反射结构，使红绿量子点光转化效率突破95%。色彩一致性控制达DeltaE<0.5，支持全色域显示无差异。在元宇宙虚拟现实装备中，该技术实现20000nit峰值亮度下的像素级控光，动态对比度突破10⁶:1，消除动态模糊伪影。电子束曝光在人工光合系统实现光能-化学能定向转化。通过多级分形流道设计优化二氧化碳传输路径，在二氧化钛光催化层表面构建纳米锥阵列陷阱结构。特殊的双曲等离激元共振结构使可见光吸收谱拓宽至800nm，太阳能转化效率达2.3%。工业级测试显示，每平方米反应器日合成甲酸量达15升，转化选择性>99%。该技术将加速碳中和技术落地，在沙漠地区建立分布式能源-化工联产系统。电子束曝光革新节能建筑用智能窗的纳米透明电极结构。
在电子束曝光与材料外延生长的协同研究中，科研团队探索了先曝光后外延的工艺路线。针对特定氮化物半导体器件的需求，团队在衬底上通过电子束曝光制备图形化掩模，再利用材料外延平台进行选择性外延生长，实现了具有特定形貌的半导体 nanostructure。研究发现，曝光图形的尺寸与间距会影响外延材料的晶体质量，通过调整曝光参数可调控外延层的生长速率与形貌，目前已在纳米线阵列的制备中获得了较为均匀的结构分布。研究所针对电子束曝光在大面积晶圆上的均匀性问题开展研究。由于电子束在扫描过程中可能出现能量衰减，6 英寸晶圆边缘的图形质量有时会与中心区域存在差异，科研团队通过分区校准曝光剂量的方式，改善了晶圆面内的曝光均匀性。电子束曝光支持量子材料的高精度电极制备和原子级结构控制。河南光芯片电子束曝光加工工厂
电子束曝光的图形精度高度依赖剂量调控技术和套刻误差管理机制。光芯片电子束曝光外协
电子束曝光设备的运行成本较高，团队通过优化曝光区域选择，对器件有效区域进行曝光，减少无效曝光面积，降低了单位器件的制备成本。同时，通过设备维护与参数优化，延长了关键部件的使用寿命，间接降低了设备运行成本。这些成本控制措施使电子束曝光技术在中试生产中的经济性得到一定提升，更有利于其在产业中的推广应用。研究所将电子束曝光技术应用于半导体量子点的定位制备中，探索其在量子器件领域的应用。量子点的精确位置控制对量子器件的性能至关重要，科研团队通过电子束曝光在衬底上制备纳米尺度的定位标记，引导量子点的选择性生长。光芯片电子束曝光外协
