CAF测试系统

天玑9000系列的成功，标志着国产手机SoC在AI赛道的**崛起。而其背后，离不开从设计、制造到测试验证的完整产业链支撑。国磊GT600测试机凭借其高通道密度、高并行能力、混合信号支持与开放C++软件架构，已成为**SoC测试的关键基础设施。它不**支持STDF等标准数据格式输出，便于良率分析与AI模型训练反馈，还可通过GPIB/TTL接口与探针台、分选机联动，构建全自动CP/FT测试流程。选择国磊GT600测试机，就是选择一条高效、自主、面向AI时代的SoC测试之路。国磊半导体，推动测试技术的进步与创新。CAF测试系统

可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电，对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标，可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流（Iddq），相当于每秒流过数亿个电子的微小电流，能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式，杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗，验证其电源门控（Power Gating）与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时，杭州国磊GT600支持混合信号测试，可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场，杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力，为国产芯片的用户体验提供底层保障。广东CAF测试系统市场价格内置多重报警功能，为您的测试安全保驾护航。

高速数字接口验证保障系统集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自动驾驶）常集成SPI/QSPI接口，速率可达50MHz以上。国磊（Guolei）GT600支持400MHz测试速率和100ps边沿精度，不仅能验证数字协议合规性，还可进行眼图分析、抖动测试和建立/保持时间检查，确保MEMS模块在高速数据交互中不失效，避免因接口时序问题导致系统崩溃。并行测试提升MEMS量产效率 消费级MEMS芯片（如手机中的六轴传感器）年出货量达数亿颗，对测试成本极其敏感。国磊（Guolei）GT600支持比较高512 Sites并行测试，可在单次测试中同时验证数百颗MEMS-ASIC芯片，大幅降低单颗测试时间与成本。结合其向量存储深度（比较高128M）和ALPG（自动逻辑图形生成）功能，可高效覆盖复杂校准算法（如六点温度补偿）的测试流程。

高精度模拟测试满足车规级信号完整性要求 智能驾驶系统高度依赖毫米波雷达、摄像头、激光雷达等传感器输入，其前端模拟信号链对噪声、失真和时序精度极为敏感。杭州国磊GT600配备的GT-AWGLP02 AWG板卡具备-122dB THD与110dB SNR指标，可精细生成高质量模拟激励信号；而GT-TMUHA04时间测量单元则提供10ps分辨率与时序误差*±10ps的测量能力。这些高精度模拟与混合信号测试功能，使得GT600能够***验证AD/DA转换器、高速SerDes接口及电源管理模块在极端工况下的性能表现，确保智能驾驶SoC在真实道路环境中稳定可靠运行。快速的数据采集速度，8秒内完成256通道扫描+数据分析！

高性能GPU的功耗管理直接影响系统稳定性与能效比。“风华3号”支持多级电源域与动态频率调节，要求测试平台具备高精度DC参数测量能力。国磊GT600测试机每通道集成PPMU，支持nA级静态电流（IDDQ）测量，可**识别GPU在待机、低功耗模式下的漏电异常。其可选配高精度浮动SMU板卡，支持-2.5V~7V电压范围与1A驱动能力，可用于DVFS电压切换测试、电源上电时序（PowerSequencing）验证及电源抑制比（PSRR）分析。GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率，可精确测量GPU**唤醒延迟、中断响应时间与时钟同步偏差，确保AI训推与实时渲染任务的时序可靠性。AI边缘计算SoC用于机器人、穿戴设备MCU+AI架构芯片，GT600通过nA级PPMU、TMU支持端侧AI低功耗可靠性测试。杭州绝缘电阻测试系统

支持远程监控，让您随时随地掌握测试进程。CAF测试系统

在地缘***风险加剧的当下，芯片测试环节的自主可控关乎**。过去，**SoC测试严重依赖泰瑞达、爱德万等国外设备，存在数据泄露、断供禁运等隐患。GT600作为纯国产**测试机，从FPGA控制逻辑到测试向量编译器均实现自主开发，确保测试数据不出境、设备不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感领域部署的AI芯片，必须通过可信平台验证。GT600的出现，填补了国产测试设备在400MHz以上高频段的空白，为国家关键信息基础设施提供“***一道防线”，是构建安全、普惠、可信AI生态的基石。CAF测试系统