在电子束曝光与离子注入工艺的结合研究中，科研团队探索了高精度掺杂区域的制备技术。离子注入的掺杂区域需要与器件图形精确匹配，团队通过电子束曝光制备掩模图形，控制离子注入的区域与深度，研究不同掺杂浓度对器件电学性能的影响。在 IGZO 薄膜晶体管的研究中，优化后的曝光与注入工艺使器件的沟道导电性调控精度得到提升，为器件性能的精细化调节提供了可能。这项研究展示了电子束曝光在半导体掺杂工艺中的关键作用。通过汇总不同科研机构的工艺数据，分析电子束曝光关键参数的合理范围，为制定行业标准提供参考。在内部研究中，团队已建立一套针对第三代半导体材料的人才团队利用电子束曝光技术研发新型半导体材料。山东高分辨电子束曝光实验室
电子束曝光在超导量子比特制造中实现亚微米约瑟夫森结的精确布局。通过100kV加速电压的微束斑（<2nm）在铌/铝异质结构上直写量子干涉器件，结区尺寸控制精度达±3nm。采用多层PMMA胶堆叠技术配合低温蚀刻工艺，有效抑制涡流损耗，明显提升量子比特相干时间至200μs以上，为量子计算机提供主要加工手段。MEMS陀螺仪谐振结构的纳米级质量块制作依赖电子束曝光。在SOI晶圆上通过双向剂量调制实现复杂梳齿电极（间隙<100nm），边缘粗糙度<1nmRMS。关键技术包括硅深反应离子刻蚀模板制作和应力释放结构设计，谐振频率漂移降低至0.01%/℃，广泛应用于高精度惯性导航系统。贵州图形化电子束曝光工艺电子束曝光在芯片热管理领域实现微流道结构传热效率突破性提升。
将电子束曝光技术与深紫外发光二极管的光子晶体结构制备相结合，是研究所的另一项应用探索。光子晶体可调控光的传播方向，提升器件的光提取效率，科研团队通过电子束曝光在器件表面制备亚波长周期结构，研究周期参数对光提取效率的影响。利用光学测试平台，对比不同光子晶体图形下器件的发光强度，发现特定周期的结构能使深紫外光的出光效率提升一定比例。这项工作展示了电子束曝光在光学功能结构制备中的独特优势，为提升光电子器件性能提供了新途径。
利用高分辨率透射电镜观察，发现量子点的位置偏差可控制在较小范围内，满足量子器件的设计要求。这项研究展示了电子束曝光技术在量子信息领域的应用潜力，为构建高精度量子功能结构提供了技术基础。围绕电子束曝光的环境因素影响，科研团队开展了系统性研究。温度、湿度等环境参数的波动可能影响电子束的稳定性与抗蚀剂性能，团队通过在曝光设备周围建立恒温恒湿环境控制单元，减少了环境因素对曝光精度的干扰。对比环境控制前后的图形制备结果，发现线宽偏差的波动范围缩小了一定比例，图形的长期稳定性得到改善。这些细节上的改进，体现了研究所对精密制造过程的严格把控，为电子束曝光技术的可靠应用提供了保障。电子束曝光通过仿生微结构设计实现太阳能海水淡化系统性能跃升。
电子束曝光是光罩制造的基石，采用矢量扫描模式在铬/石英基板上直接绘制微电路图形。借助多级剂量调制技术补偿邻近效应，支持光学邻近校正（OPC）掩模的复杂辅助图形创建。单张掩模加工耗时20-40小时，配合等离子体刻蚀转移过程，电子束曝光确保关键尺寸误差控制在±2纳米内。该工艺成本高达50万美元，成为7纳米以下芯片制造的必备支撑技术，直接影响芯片良率。电子束曝光的纳米级分辨率受多重因素制约：电子光学系统束斑尺寸（先进设备达0.8纳米）、背散射引发的邻近效应、以及抗蚀剂的化学特性。采用蒙特卡洛仿真空间剂量优化，结合氢倍半硅氧烷（HSQ）等高对比度抗蚀剂，可在硅片上实现3纳米半间距阵列（需超高剂量5000μC/cm²）。电子束曝光的实际分辨能力通过低温显影和工艺匹配得以提升，平衡精度与效率。电子束曝光为植入式医疗电子提供长效生物界面封装。东莞生物探针电子束曝光外协
电子束曝光利用非光学直写原理突破光学衍射极限，实现纳米级精度加工和复杂图形直写。山东高分辨电子束曝光实验室
针对电子束曝光在异质结器件制备中的应用，科研团队研究了不同材料界面处的图形转移规律。异质结器件的多层材料可能具有不同的刻蚀选择性，团队通过电子束曝光在顶层材料上制备图形，再通过分步刻蚀工艺将图形转移到下层不同材料中，研究刻蚀时间与气体比例对跨材料图形一致性的影响。在氮化物 / 硅异质结器件的制备中，优化后的工艺使不同材料层的图形线宽偏差控制在较小范围内，保证了器件的电学性能。科研团队在电子束曝光设备的国产化适配方面进行了探索。为降低对进口设备的依赖，团队与国内设备厂商合作，测试国产电子束曝光系统的性能参数，针对第三代半导体材料的需求提出改进建议。通过调整设备的控制软件与硬件参数，使国产设备在 6 英寸晶圆上的曝光精度达到实用要求，与进口设备的差距缩小了一定比例。山东高分辨电子束曝光实验室
