介质薄膜是重要的半导体薄膜之一。它可用作电路间的绝缘层，掩蔽半导体主要元件的相互扩散和漏电现象，从而进一步改善半导体操作性能的可靠性；它还可用作保护膜，在半导体制程的环节生成保护膜，保护芯片不受外部冲击；或用作隔离膜，在堆叠一层层元件后进行刻蚀时，防止无需移除的部分被刻蚀。浅槽隔离（STI，ShallowTrenchIsolation）和金属层间电介质层（就是典型的例子。沉积材料主要有二氧化硅（SiO2），碳化硅（SiC）和氮化硅（SiN）等。真空镀膜过程中需确保镀膜均匀性。汕头钛金真空镀膜
LPCVD设备的发展历史可以追溯到20世纪50年代，当时美国贝尔实验室的科学家们使用LPCVD方法在硅片上沉积多晶硅薄膜，并用于制造双极型晶体管。随后，LPCVD方法被广泛应用于制造金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）、动态随机存储器（DRAM）、太阳能电池等器件。20世纪70年代，LPCVD方法开始用于沉积氮化硅和氧化硅等绝缘薄膜，用于制造互连层、保护层、栅介质层等结构。20世纪80年代，LPCVD方法开始用于沉积碳化硅等宽禁带半导体薄膜，用于制造高温、高功率、高频率等特殊应用的器件阳江真空镀膜镀膜层能明显提升产品的抗辐射能力。
衡量沉积质量的主要指标有以下几项：指标就是均匀度。顾名思义，该指标就是衡量沉积薄膜厚度均匀与否的参数。薄膜沉积和刻蚀工艺一样，需将整张晶圆放入沉积设备中。因此，晶圆表面不同角落的沉积涂层有可能厚度不一。高均匀度表明晶圆各区域形成的薄膜厚度非常均匀。第二个指标为台阶覆盖率（StepCoverage）。如果晶圆表面有断层或凹凸不平的地方，就不可能形成厚度均匀的薄膜。台阶覆盖率是考量膜层跨台阶时，在台阶处厚度损失的一个指标，即跨台阶处的膜层厚度与平坦处膜层厚度的比值。
电子束蒸发是目前真空镀膜技术中一种成熟且主要的镀膜方法，它解决了电阻加热方式中钨舟材料与蒸镀源材料直接接触容易互混的问题。同时在同一蒸发沉积装置中可以安置多个坩埚，实现同时或分别蒸发，沉积多种不同的物质。通过电子束蒸发，任何材料都可以被蒸发，不同材料需要采用不同类型的坩埚以获得所要达到的蒸发速率。电子束蒸发可以蒸发高熔点材料，比一般电阻加热蒸发热效率高、束流密度大、蒸发速度快，制成的薄膜纯度高、质量好，通过晶振控制，厚度可以较准确地控制，可以广泛应用于制备高纯薄膜和各种光学材料薄膜。电子束蒸发的金属粒子只能考自身能量附着在衬底表面，台阶覆盖性比较差，如果需要追求台阶覆盖性和薄膜粘附力，建议使用磁控溅射。薄膜应力的起源是薄膜生长过程中的某种结构不完整性(杂质、空位、晶粒边界、错位等)、表面能态的存在等。
栅极氧化介电层除了纯二氧化硅薄膜，也会用到氮氧化硅作为介质层，之所以用氮氧化硅来作为栅极氧化介电层，一方面是因为跟二氧化硅比，氮氧化硅具有较高的介电常数，在相同的等效二氧化硅厚度下，其栅极漏电流会降低；另一方面，氮氧化硅中的氮对PMOS多晶硅中硼元素有较好的阻挡作用，它可以防止离子注入和随后的热处理过程中，硼元素穿过栅极氧化层到沟道，引起沟道掺杂浓度的变化，从而影响阈值电压的控制。作为栅极氧化介电层的氮氧化硅必须要有比较好的薄膜特性及工艺可控性，所以一般的工艺是先形成一层致密的、很薄的、高质量的二氧化硅层，然后通过对二氧化硅的氮化来实现的。真空镀膜在电子产品中不可或缺。成都真空镀膜机
镀膜技术可用于制造精密仪器部件。汕头钛金真空镀膜
镀膜机中的电子束加热的方法与传统的电阻加热的方法相比较的话。电子束加热会产生更高的通量密度，这样的话对于高熔点的材料的蒸发比较有利，而且还可以使的蒸发的速率得到一定程度上的提高。蒸发镀膜机在工作的时候会将需要被蒸发的原材料放入到水冷铜坩埚内，这样就可以保证材料避免被污染，可以制造纯度比较高的薄膜，电子束蒸发的粒子动能比较的大，这样会有利于薄膜的精密性和结合力。电子束蒸发镀膜机的整体的构造比较的复杂，价格相较于其他的镀膜设备而言比较的偏高。镀膜机在工作的时候，如果蒸发源附近的蒸汽的密度比较高的话，就会使得电子束流和蒸汽粒子之间发生一些相互的作用，将会对电子的通量产生影响，使得电子的通量散失或者偏移轨道。同时你还可能会引发蒸汽和残余的气体的激发和电离，以此影响到整个薄膜的质量。汕头钛金真空镀膜
