选择比指的是在同一刻蚀条件下一种材料与另一种材料相比刻蚀速率快多少，它定义为被刻蚀材料的刻蚀速率与另一种材料的刻蚀速率的比。基本内容：高选择比意味着只刻除想要刻去的那一层材料。一个高选择比的刻蚀工艺不刻蚀下面一层材料（刻蚀到恰当的深度时停止）并且保护的光刻胶也未被刻蚀。图形几何尺寸的缩小要求减薄光刻胶厚度。高选择比在较先进的工艺中为了确保关键尺寸和剖面控制是必需的。特别是关键尺寸越小，选择比要求越高。广东省科学院半导体研究所。刻蚀技术可以实现不同形状的刻蚀，如线形、点形、面形等。徐州反应性离子刻蚀
材料刻蚀设备是一种用于制造微电子、光学元件、传感器等高精度器件的重要工具。为了确保设备的长期稳定运行和高效生产，需要进行定期的维护和保养。以下是一些常见的维护和保养措施：1.清洁设备：定期清洁设备表面和内部部件，以防止灰尘、污垢和化学物质的积累。清洁时应使用适当的清洁剂和工具，并遵循设备制造商的建议。2.更换耗材：定期更换设备中的耗材，如刻蚀液、气体、电极等。更换时应注意选择合适的材料和规格，并遵循设备制造商的建议。3.校准设备：定期校准设备，以确保其输出的刻蚀深度、形状和位置等参数符合要求。校准时应使用标准样品和测量工具，并遵循设备制造商的建议。4.检查设备：定期检查设备的各项功能和部件，以发现潜在的故障和问题。检查时应注意安全，遵循设备制造商的建议，并及时修理或更换有问题的部件。5.培训操作人员：定期对操作人员进行培训，以提高其对设备的操作技能和安全意识。培训内容应包括设备的基本原理、操作流程、维护和保养方法等。重庆材料刻蚀加工平台物理刻蚀是利用物理过程来剥离材料表面的方法，适用于硬质材料。
光刻胶又称光致抗蚀剂，是一种对光敏感的混合液体。其组成部分包括以下几种：光引发剂（包括光增感剂、光致产酸剂）、光刻胶树脂、单体、溶剂和其他助剂。光刻胶可以通过光化学反应，经曝光、显影等光刻工序将所需要的微细图形从光罩（掩模版）转移到待加工基片上。依据使用场景，这里的待加工基片可以是集成电路材料，显示面板材料或者印刷电路板。据第三方机构智研咨询统计，2019年全球光刻胶市场规模预计近90亿美元，自2010年至今CAGR约5.4%。预计该市场未来3年仍将以年均5%的速度增长，至2022年全球光刻胶市场规模将超过100亿美元。可以把光刻技术扩展到32nm以下技术节点。
刻蚀技术是一种重要的微纳加工技术，可以在微米和纳米尺度上制造高精度的结构和器件。在传感器制造中，刻蚀技术被广泛应用于制造微机电系统（MEMS）传感器和光学传感器等各种类型的传感器。具体来说，刻蚀技术在传感器制造中的应用包括以下几个方面：1.制造微机电系统（MEMS）传感器：MEMS传感器是一种基于微机电系统技术制造的传感器，可以实现高灵敏度、高分辨率和高可靠性的测量。刻蚀技术可以用于制造MEMS传感器中的微结构和微器件，如微加速度计、微陀螺仪、微压力传感器等。2.制造光学传感器：光学传感器是一种利用光学原理进行测量的传感器，可以实现高精度、高灵敏度的测量。刻蚀技术可以用于制造光学传感器中的光学元件和微结构，如光栅、微透镜、微镜头等。3.制造化学传感器：化学传感器是一种利用化学反应进行测量的传感器，可以实现对各种化学物质的检测和分析。刻蚀技术可以用于制造化学传感器中的微通道和微反应器等微结构，以实现高灵敏度和高选择性的检测。刻蚀技术可以通过控制刻蚀条件来实现对材料表面形貌的调控，可以制造出不同形状的器件。
干刻蚀是一类较新型，但迅速为半导体工业所采用的技术，GaN材料刻蚀工艺。其利用电浆来进行半导体薄膜材料的刻蚀加工。其中电浆必须在真空度约10至0.001Torr的环境下，才有可能被激发出来；而干刻蚀采用的气体，或轰击质量颇巨，或化学活性极高，均能达成刻蚀的目的，GaN材料刻蚀工艺。干刻蚀基本上包括离子轰击与化学反应两部份刻蚀机制。偏「离子轰击」效应者使用氩气(argon)，加工出来之边缘侧向侵蚀现象极微。而偏化学反应效应者则采氟系或氯系气体(如四氟化碳CF4)，经激发出来的电浆，即带有氟或氯之离子团，可快速与芯片表面材质反应。删轿厚干刻蚀法可直接利用光阻作刻蚀之阻绝遮幕，不必另行成长阻绝遮幕之半导体材料。而其较重要的优点，能兼顾边缘侧向侵蚀现象极微与高刻蚀率两种优点，换言之，本技术中所谓活性离子刻蚀已足敷页堡局渗次微米线宽制程技术的要求，而正被大量使用。材料刻蚀技术可以用于制造微型传感器和生物芯片等微型器件。甘肃氮化硅材料刻蚀
刻蚀过程可以通过化学反应或物理作用来实现，具有高精度和高可控性。徐州反应性离子刻蚀
早期的刻蚀技术为湿法刻蚀，是将刻蚀材料浸泡在腐蚀液中进行腐蚀的技术。这个过程是纯化学腐蚀的过程。湿法刻蚀具有良好的选择性，例如实验室经常采用磷酸来腐蚀铝金属化，而不会腐蚀金属化层间的介质层材料；半导体制造过程中用调配后的氢氟酸（加入NH4F缓冲液）来腐蚀二氧化硅，而不会对光刻胶造成过量的伤害。随着半导体特征尺寸的不断减小，湿法刻蚀逐渐被一些干法刻蚀所替代。其原因在于湿法刻蚀是各向同性的，横向刻蚀的宽度接近于纵向刻蚀的深度，因此会产生钻蚀的现象，因此在小尺寸的制程中，湿法刻蚀的精度控制非常困难，并且可重复性差。徐州反应性离子刻蚀
