每一代USB新的标准推出,都考虑到了对前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等,都只能在新型的Type-C连接器上实现。由于USB总线的信号速率已经很高,且链路损耗和链路组合的情况非常复杂,所以给设计和测试验证工作带来了挑战,对于测试仪器的功能和性能要求也与传统的USB2.0差别很大。下面将详细介绍其相关的电气性能测试方法。由于涉及的标准众多,为了避免混淆,我们将把USB3.0、USB3.1、USB3.2标准统称为USB3.x,并与USB4.0标准分开介绍。usb3.0的接收容限测试?PCI-E测试USB测试维修价格
新USB4标准新USB4标准引入了16种新的预置值,也就是说,发射机均衡现在有16种不同的组合。较USB 3.2发射机,这是一个很大的变化,前者支持1个前冲电平和3个加重电平。USB4采用双重角色数据操作,使主机到主机通信成为可能。USB4接收机测试和链路/通路初始化中的巨大差异之一,是它采用边带通道进行通信。USB4接收机测试不同于传统 USB 3. 2接收机测试。现在,USB4接收机测试采用机载误码计数器,来计算BER,因此我们现在需要USB4微控制器,来同时执行发射机测试和接收机测试。PCI-E测试USB测试维修价格USB4电性一致性测试;
测试系统搭建和介绍任何测试系统的搭建都是以测试目的为导向的,在测试之前一定要明确测试目的。对于完整的USB2.0信号完整性测试,需要对TX端和RX端都进行完整的测试,但是对于大多数厂商来讲,可能只能完成基本的TX端测试。我们这个测试也只对TX端进行测试,所以测试的系统就是一台示波器、DUT、测试夹具和测试线缆。
示波器:TektronixTDS7704B,带宽为7GHz,采样率为20GS/s;测试探针:TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture;测试夹具:TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter;测试软件:•USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10;•TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2;Tektronix的USB2.0发送端一致性测试软件TDSUSB2可以支持嵌入(Embed)、去嵌入(De-embed)的功能,这对研发工程师的作用非常大。在软件中还直接内置提供Host和Device的一致性通道传递函数,可以嵌入一致性通道模型,完成对一致性测试的要求,这主要体现在包含了测试过程中加入了长通道和短通道的S参数在其中,这时不管你是做的Host端的产品还是Device端的产品,只要在测试时选择对应参数即可真实的使用情况。这样也符合一致性测试规范。
根据应用场景的不同,这个“Long Channel”的定义也不同。比如对于 A型接口5Gbps速率的主机的测试,它模拟的是3m长电缆+5英寸PCB走线的影响;对 于B型接口外设的测试,它模拟的是3m长电缆+11英寸PCB走线的影响。因此,USB3.x 的信号质量测试中,5Gbps速率下不同设备类型或者接口类型下嵌入的参考通道模型可能 不一样,测试结果也就可能不一样。但对于10Gbps信号来说,由于USB协会定义的主机 和外设端允许的通道损耗是对称的(都是8.5dB),所以对于主机和外设的测试来说,其嵌入 的通道模型就是一样的。USB接口可靠性测试方法;
测试过程Tektronix示波器对于USB2.0这类接口的测试都有非常完善的测试解决方案,这些方案都是标准流程化的,只要进入到软件测试界面即可按照流程图一步一步的往下进行测试。下面是测试时的相关设置和注意事项:在测试前,首先要预热、校准示波器(大约20分钟)、线缆需要做de-skew。这一步非常的关键,特别是线缆做de-skew,因为很多时候线缆与线缆之间有一些偏差,如果不做de-skew就会导致在差分信号的正端和负端引入系统误差。然后就开启测试USB2.0软件TDSUSB2TestApp,
USB3.0的总线架构展示?PCI-E测试USB测试维修价格
USB2.0一致性测试数据;PCI-E测试USB测试维修价格
为了模拟传输通道对信号的影响,USB协会提供了相应的测试夹具。每套测试夹具由 很多块组成,可以模拟相应的PCB走线并在中间插入测试电缆。这些测试夹具通过组合可 以进行发送信号质量的测试,也可以进行接收容限的测试,或者进行接收容限测试前的校 准。图3 .4是USB协会提供的针对10Gbps的A型接口主机及Micro-B型接口外设的测 试夹具。
除了使用真实的测试夹具和电缆来模拟传输通道对信号的影响外,实际测试中还可以 用示波器的S参数嵌入功能来模拟加入传输通道影响,这样可以简化测试连接,也避免了 夹具反复插拔造成的特性变化。图3.5是使用夹具直接引出信号,并通过示波器中的S参 数嵌入功能进行通道嵌入的典型的USB3.0的信号质量测试环境。 PCI-E测试USB测试维修价格
从 2015 年到现在,是德科技基于磷化铟 (InP) 工艺的 Infiniium 系 列高带宽示波器, 凭借其优异的低噪声、低抖动底噪等硬件性能 和的尾部拟合”Tail-fit”抖动分离算法等软件,一直是被 Intel 和Thunderbolt 认证实验室认可和批准使用的高带宽示波器。 进入到 USB4.0 时代,大家如果仔细通读每一个版本的测试规范, 都可以发现,所以的仪表截屏、设定和算法,采用的都是德科技 高带宽示波器。 2019 年,是德科技基于第二代磷化铟(InP 工艺,推出了 110GHz 带宽, 256GSa/s 采样率,硬件 10bit ADC,25fs 抖动...