Type - C的接口是双面的,也就是同 一 时刻只有TX1+/TX1 一 或者TX2+/TX2 - 引脚上会有USB3 . 1信号输出,至于哪 一面有信号输出,取决于插入的方向。如图3 . 18所 示,默认情况下DFP设备在CC引脚上有上拉电阻Rp,UFP设备在CC引脚上有下拉电阻 Ra,根据插入的电缆方向不同,只有CCl或者CC2会有连接,通过检测CCl或者CC2上的 电压变化,DFP和UFP设备就能感知到对端的插入从而启动协商过程。
信号质量的测试过程中,由于被测件连接的是测试夹具,并没有真实地对端设备插入,这就需要人为在测试夹具上模拟电阻的上下拉来欺骗被测件输出信号 USB3.0信号测试方法定义?信号完整性测试USB测试故障
USB测试
由 于 U S B 4 . 0 的 发 送 端 和 接 收 端 非 常 复 杂 , 且 要 根 据 实 际 链 路 质 量 进 行 协 商 和 调 整 。 为 了 方 便 进 行 链 路 协 商 的 信 息 交 互 , U S B 4 . 0 还 提 供 了 额 外 的 边 带 通 道 ( S i d e b a n d C h a n n e l ) 。 边 带 通 道 借 助 于T y p e - C接 口 的S B U 1 和 S B U 2 信 号 , 并 重 新 定 义 成 S B T X 和 S B R X , 用 这 两 个 引 脚 实 现 双 向 的 信 息 交 互 。 边 带 通 道 上 传 输 的 是 1 M b p s 数 据 速 率 的 低 速 信 号 , 可 以 用 来 进 行 链 路 上 设 备 和 R e t i m e r 的 管 理 , 包 括 链 路 初 始 化 、 链 路 使 能 、 断 开 连 接 、 休眠管理 、 链路均衡等 。
克劳德高速数字信号测试实验室
地址:深圳市南山区南头街道中祥路8号君翔达大厦A栋2楼H区 江苏USB测试执行标准克劳德高速数字信号测试实验室USB 3.2 & 2.0测试;
根据应用场景的不同,这个“Long Channel”的定义也不同。比如对于 A型接口5Gbps速率的主机的测试,它模拟的是3m长电缆+5英寸PCB走线的影响;对 于B型接口外设的测试,它模拟的是3m长电缆+11英寸PCB走线的影响。因此,USB3.x 的信号质量测试中,5Gbps速率下不同设备类型或者接口类型下嵌入的参考通道模型可能 不一样,测试结果也就可能不一样。但对于10Gbps信号来说,由于USB协会定义的主机 和外设端允许的通道损耗是对称的(都是8.5dB),所以对于主机和外设的测试来说,其嵌入 的通道模型就是一样的。
需要 指出的是在 TP3(Case 2) 远端 校准时, 除了 Type-C cable 外, 还 需要 ISI boards, 利用 网 络 分 析 实测, 保 证 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整个测试链路的插入损耗满足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。
同时, 是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自动化接收端软件, 帮 助客户非常方便的控制示波器对误码仪输出的加压信号进行校 准, 通过 USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 软件读取误码测试时误 码仪和被测芯片 Preset 和链路协商过程、以及的误码测试结 果, 生成完整的测试报告。 USB3.0测试信号的波形;
USB3.x发送端信号质量测试在进行USB3.x发送端信号质量测试时,会要求测试对象发出特定的测试码型,用实时示波器对该码型进行眼图分析,并测量信号的幅度、抖动、平均数据率及上升/下降时间等。虽然看起来好像比较简单,但实际上USB3.x针对超高速部分的信号测试与传统USB2.0的测试方法有较大的不同,包括很多算法的处理和注意事项。首先,由于USB3.x信号速率很高,且信号的幅度更小,因此测试中需要更高带宽的示波器。对于5Gbps信号的测试,推荐使用至少12.5GHz带宽的示波器;对于10Gbps信号的测试,推荐使用至少16GHz带宽的示波器。其次,对于USB3.x发送端测试,其测试的参考点不是像USB2.0那样只是在发送端的连接器上进行测试,还需要测试经过“一致性通道”(ComplianceChannel)或“参考通道”(ReferenceChannel)传输,并经参考均衡器均衡后的信号质量。通常把直接在发送端连接器上进行的测试叫作“ShortChannel”测试,把经过传输通道进行的测试叫作“LongChannel”测试。什么是usb3.1的标准?上海USB测试DDR测试
USB2.0一致性测试数据;信号完整性测试USB测试故障
3.USB4.0回波损耗测试高速串行信号传输速率越高,信号的射频微波化趋势就越明显,20Gb/s的数字信号的Nyquist频率已经高达10GHz。这种情况下,测试信号的时域指标已经越来越难以保证信号的质量;因此从Thunderbolt3.0开始,发送端在正常传输数据时的回波损耗测试也变成了一个必须的测试项目,USB4.0当然也不例外。USB4.0定义了发送端和接收端差分回波损耗及共模回波损耗四个测试项目。
USB4.0 回波损耗测试的实际连接和结果示意图。它需要 一台至少 20GHz 带宽、带 TDR 选件的网络分析仪, 同时被测体通 过 USB4ETT 软件和 USB4.0 Microcontroller 产生 PRBS31 的测试码型。 是德科技提供详细的操作步骤和网络分析仪设定文件 (State File) 供大家参考。 信号完整性测试USB测试故障
从 2015 年到现在,是德科技基于磷化铟 (InP) 工艺的 Infiniium 系 列高带宽示波器, 凭借其优异的低噪声、低抖动底噪等硬件性能 和的尾部拟合”Tail-fit”抖动分离算法等软件,一直是被 Intel 和Thunderbolt 认证实验室认可和批准使用的高带宽示波器。 进入到 USB4.0 时代,大家如果仔细通读每一个版本的测试规范, 都可以发现,所以的仪表截屏、设定和算法,采用的都是德科技 高带宽示波器。 2019 年,是德科技基于第二代磷化铟(InP 工艺,推出了 110GHz 带宽, 256GSa/s 采样率,硬件 10bit ADC,25fs 抖动...