在荧光探伤用LED灯的选择中，峰值波长是重要的因素。在以前的荧光渗透剂和荧光磁粉配方的研究和开发中，汞蒸气一直被用作紫外线光源。汞蒸气光源在365.4nm处产生单一的UV-a峰，即汞的发射线。因此，在所有荧光渗透剂和荧光磁粉的研发和制造中，染料的选择要求它们能在365nm的紫外辐射下发出荧光。发光二极管（LED）发射的紫外线的峰值波长是可变的，这取决于内部半导体的掺杂。为了保证led UV-A灯能使荧光渗透剂和荧光磁粉产生荧光，led的峰值波长必须在360-370nm范围内。 磁粉探伤也可用于棒材、坯料、锻件、铸件等半成品和原材料的检验，以发现存在的表面缺陷。苏州LY-CONC探伤剂质量保证
LED灯的使用和维护
一般来说，LED UV-A灯的使用方法与汞蒸气灯相同。探伤前（或至少每天）应检查UV-A辐射强度。
根据被测部件或区域的配置，可能需要多个灯以获得较好结果。应注意在距被检表面适当距离处使用LED灯。均匀的UV-A光覆盖可以产生良好效果，根据需要移动灯以检查更大的区域。建议佩戴UV-A安全眼镜，以减少眼睛疲劳，防止过量的UV-A辐射干扰视力。精心设计的手持式和固定式灯具，可连续工作，UV-A亮度不衰减，不闪烁，不发热。
山东LY-CONC探伤剂性能超声波检测按其原理可分为缺陷回波法、穿透法和共振法。它可分为等波和纵波。
3.探针晶片尺寸
探针晶片的形状一般为圆形和方形。探头的芯片尺寸对超声波探伤结果有一定的影响，选择时主要考虑以下因素。
1） 半扩散角。根据扩散角公式，随着晶片尺寸的增大，半扩散角减小，波束指向性好，超声能量集中，有利于缺陷检测。
2） 探伤近场区。根据近场长度公式，近场区长度随晶圆尺寸的增加而增大，不利于缺陷检测。
3） 晶圆尺寸大，辐射超声能量强，探头未显影区扫描范围大，远程缺陷检测能力增强。
对于探伤面积较大的工件，应选用大型圆片探头，以提高探伤效率；对于厚度较大的工件，应采用大型圆片探头，以便有效地检测远距离缺陷；对于小型工件，为了提高缺陷的定位和定量精度，应采用小型芯片探头；对于表面不平整、曲率较大的工件，应减少耦合损耗，应选用小型芯片探头。
LED灯的第二个优点是安全性。
将汞蒸气灯改为LED灯，可以消除有害的汞废物。但LED灯也有更多的用户安全优势。汞蒸气灯泡发出有害的UV-B和UV-C辐射，因此必须配备过滤器以保护探伤人员。手持式汞蒸气灯功率为100W，吸顶式装置功率为400W。电耗会产生大量的热量，使灯具表面发热，给探伤人员带来烧伤的危险。汞蒸气灯由易碎的玻璃灯泡和过滤器制成，以防止液体撞击或飞溅造成意外损坏。LED灯可以避免上述危害，很大程度提高了探伤人员和探伤现场的安全性。
第一种是黑色磁粉，它是由氧化铁（Fe3O4）以黑色粉末的形式组成，适用于背景较浅或明亮的工件。
工作距离与照射形态
LED UV-A灯的照明面积是指被检表面黑光强度大于1000μw/cm2（探伤所需的最小值）的区域。曝光面积较小的灯可用于检测较小的区域，如孔、焊接接头和内表面。在大型结构中使用时，较小的暴露区域会产生“隧道视觉”，探伤人员只关注一个区域，暴露区域以外的指示很容易被漏掉。曝光面积较大的灯可以向眼睛注视（检查）周围区域提供UV-A辐射。这样，探伤人员就可以快速定位和识别这些区域的荧光显示，以便进行进一步的检测。 涡流探伤是用激磁线圈使导电构件内产生涡电流，借助探测线圈测定涡电流的变化量，从而获得工件缺陷的信息。U-ST探伤剂联系方式
第二种是红色磁粉，它是由氧化铁（Fe2O3）以铁红色粉末的形式组成，适用于深色背景的工件。苏州LY-CONC探伤剂质量保证
渗透检测，俗称渗透检测，是一种基于毛细管作用原理的无损检测方法，用于检测表面开口缺陷。
它与射线检测、超声波检测、磁粉检测和涡流检测一起被称为五种常规无损检测方法。渗透检测始于本世纪初，是继目测之外很早的无损检测方法。
由于渗透检测的独特优势，被广泛应用于现代工业的各个领域。
国外研究表明，渗透检测法检测表面点线缺陷的概率高于磁粉检测法，是较有效的表面检测方法。
渗透探伤工作原理：
在毛细管的作用下，渗透剂渗入表面开孔缺陷；
去除工件表面多余的渗透剂后，缺陷中的渗透剂会通过显影剂的毛细作用吸附到工件表面，形成痕迹，说明缺陷的存在。这种方法称为渗透探伤。
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