企业商机
测试系统基本参数
  • 品牌
  • 国磊
  • 型号
  • 齐全
测试系统企业商机

可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电,对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标,可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流(Iddq),相当于每秒流过数亿个电子的微小电流,能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式,杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗,验证其电源门控(Power Gating)与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时,杭州国磊GT600支持混合信号测试,可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场,杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力,为国产芯片的用户体验提供底层保障。国磊GT600多通道浮动SMU设计,支持多电源域模拟芯片(如多路电源管理IC)的单一电压施加与电流监测。GEN3测试系统市场价格

GEN3测试系统市场价格,测试系统

    杭州国磊(Guolei)的GT600SoC测试系统本质上是一款面向高性能系统级芯片(SoC)量产与工程验证的自动测试设备(ATE),其**能力聚焦于高精度数字、模拟及混合信号测试。虽然该设备本身并非为量子计算设计,但在当前科技融合加速发展的背景下,国磊SoC测试系统确实可以在特定环节与量子科技产生间接但重要的联系。量子芯片控制与读出电路的测试需求,目前实用化的量子处理器(如超导量子比特、硅基自旋量子比特)本身无法**工作,必须依赖大量经典控制电子学模块——包括高速任意波形发生器(AWG)、低噪声放大器、高精度数模/模数转换器(DAC/ADC)以及低温CMOS读出电路。这些**控制芯片多为定制化SoC或ASIC,需在极端条件下(如低温、低噪声)进行功能与参数验证。国磊(Guolei)GT600配备的高精度AWG板卡(THD达-122dB)、24位混合信号测试能力及GT-TMUHA04时间测量单元(10ps分辨率),恰好可用于验证这类量子控制芯片的信号保真度、时序同步性与电源完整性,从而间接支撑量子系统的稳定运行。 金门PCB测试系统厂家直销国磊GT600SoC测试机是国产低功耗芯片实现“高性能+长续航”目标的关键测试基础设施。

GEN3测试系统市场价格,测试系统

可选AWG/TMU/Digitizer:混合信号的“全能工具箱” 杭州国磊GT600支持选配AWG(任意波形发生器)、TMU(时间测量单元)和Digitizer(数字化仪),使其从“数字测试机”升级为“混合信号测试平台”。AWG可生成正弦波、三角波、噪声等任意波形,用于测试手机SoC的ISP图像处理、音频编解码性能,THD低至-122dB,信号纯净度媲美**仪器。TMU具备10ps时间分辨率,可精确测量5G基带信号的抖动与延迟,保障通信质量。Digitizer则能高速采样模拟信号,用于验证传感器接口、电源纹波等。在测试一颗集成了摄像头、麦克风、蓝牙的IoT芯片时,杭州国磊GT600可同时激励数字逻辑、注入模拟信号、采集响应波形,实现全功能闭环验证。这套“工具箱”让杭州国磊GT600能应对日益复杂的混合信号SoC,无需外接多台设备,节省空间与成本。

Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet(芯粒)技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成,突破摩尔定律瓶颈,成为先进制程的重要方向。然而,小芯片间的高速互联(如UCIe)对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度,可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块(Micro-bump)的供电稳定性,检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗,确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展,可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***,杭州国磊GT600以高精度互联验证能力,为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。国磊GT600SoC测试机可选配GT-TMUHA04板卡,提供10ps时间分辨率与0.1%测量精度,用于HBM接口时序对齐测试。

GEN3测试系统市场价格,测试系统

智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进,车载计算平台对SoC(系统级芯片)的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元,用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而,如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度,能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景,为芯片从设计到量产提供坚实保障。国磊GT600SoC测试机向量响应存储深度达128M,可完整捕获HBM高速数据传输过程中的误码行为。GEN3测试系统生产厂家

国磊GT600SoC测试机边沿精度(EPA)达100ps,确保HBM高速信号建立/保持时间(Setup/Hold)的精确测量。GEN3测试系统市场价格

适配多元化国产芯片架构 中国芯片产业呈现百花齐放态势:RISC-V CPU、存算一体AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架构层出不穷。这些芯片往往具有非标I/O、特殊电源域或混合信号需求。国磊(Guolei)GT600的16个通用插槽、多种VI浮动电源板卡(如-2.5V~7V)、每引脚PPMU及可选配的高精度模拟板卡,使其能灵活适配各类异构芯片的测试需求,避免因测试平台僵化而制约创新芯片的发展,从而维护技术路线的多样性与供应链的抗风险能力。保障关键领域芯片供应安全 在**、航空航天、智能电网、轨道交通、新能源汽车等关乎国计民生的关键领域,芯片供应链安全直接关系**。国磊(Guolei)GT600已应用于**AD/DA、显示驱动、MCU等芯片测试,未来可进一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等领域。通过部署国产测试设备,这些敏感芯片的测试数据、良率信息、失效模式等**知识产权得以保留在境内,杜绝信息泄露风险。GEN3测试系统市场价格

与测试系统相关的文章
杭州国磊绝缘电阻测试系统精选厂家 2026-01-23

面对AI架构日新月异(如存算一体、稀疏计算、类脑芯片),测试平台必须具备高度灵活性。GT600采用开放软件架构,支持C++、Python及Visual Studio开发环境,允许用户自定义测试逻辑、数据分析模块与自动化脚本。高校、初创企业甚至“六小龙”中的技术团队均可基于GT600快速搭建专属验证方案,无需依赖封闭厂商的黑盒工具链。这种开放性极大缩短了从算法原型到芯片验证的周期,使杭州成为AI芯片创新的“快速试验田”。GT600不仅是量产设备,更是推动中国AI底层硬件从“跟随”走向“原创”的创新引擎。国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口,如快速唤...

与测试系统相关的问题
信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责