杭州国磊GEN3测试系统供应

    低温CMOS芯片的常温预筛与参数表征许多用于量子计算的控制芯片需在毫开尔文温度下工作，但其制造仍基于标准CMOS工艺。在封装并送入稀释制冷机前，必须通过常温下的严格电性测试进行预筛选。杭州国磊（Guolei）GT600支持每引脚PPMU（参数测量单元）和可编程浮动电源（），能精确测量微弱电流、漏电及阈值电压漂移等关键参数，有效剔除早期失效器件，避免昂贵的低温测试资源浪费。量子测控SoC的量产验证平台随着量子计算机向百比特以上规模演进，集成化“量子测控SoC”成为趋势（如Intel的HorseRidge芯片）。这类芯片集成了多通道微波信号调制、频率合成、反馈控制等功能，结构复杂度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行测试能力、128M向量深度及400MHz测试速率，完全可满足此类**SoC在工程验证与小批量量产阶段的功能覆盖与性能分bin需求。 国磊GT600在电源门控测试中，通过其高精度测量能力与灵活测试架构，适配成熟到先进节点的工艺制程。杭州国磊GEN3测试系统供应

适配多元化国产芯片架构 中国芯片产业呈现百花齐放态势：RISC-V CPU、存算一体AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架构层出不穷。这些芯片往往具有非标I/O、特殊电源域或混合信号需求。国磊（Guolei）GT600的16个通用插槽、多种VI浮动电源板卡（如-2.5V~7V）、每引脚PPMU及可选配的高精度模拟板卡，使其能灵活适配各类异构芯片的测试需求，避免因测试平台僵化而制约创新芯片的发展，从而维护技术路线的多样性与供应链的抗风险能力。保障关键领域芯片供应安全 在**、航空航天、智能电网、轨道交通、新能源汽车等关乎国计民生的关键领域，芯片供应链安全直接关系**。国磊（Guolei）GT600已应用于**AD/DA、显示驱动、MCU等芯片测试，未来可进一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等领域。通过部署国产测试设备，这些敏感芯片的测试数据、良率信息、失效模式等**知识产权得以保留在境内，杜绝信息泄露风险。珠海GEN测试系统供应商国磊GT600的16个通用插槽支持数字、模拟、混合信号板卡混插，实现电源管理IC、传感器信号调理芯片的测试。

国产替代的“自主基石” 在美国对华**半导体设备禁运的背景下，国产测试机成为“卡脖子”环节的突围重点。杭州国磊GT600作为国产**SoC测试平台，支持C++编程、Visual Studio开发环境，软件系统开放可控，避免依赖国外“黑盒子”软件。其硬件架构灵活，16个通用插槽可适配国产探针台、分选机，实现全链路本土化集成。交期短、响应快、可定制，满足华为、比亚迪等企业对供应链安全与数据保密的严苛要求。杭州国磊GT600的出现，标志着中国在**测试设备领域从“跟跑”向“并跑”迈进。它不仅是工具，更是中国半导体产业链自主可控战略的“隐形支柱”，为国产芯片的持续创新提供坚实底座。

尽管“杭州六小龙”（游戏科学、深度求索、宇树科技等）以应用层创新闻名，但其产品**均依赖高性能、低功耗的定制化SoC。若这些企业未来走向自研芯片（如深度求索布局AI推理加速卡、强脑科技开发神经信号处理芯片），GT600将成为其不可或缺的验证伙伴。即便当前由第三方代工，其合作芯片厂也可能采用GT600进行量产测试。更重要的是，二者同处杭州科创生态，共享人才、政策与供应链资源。GT600虽未出现在乌镇峰会聚光灯下，却是支撑“六小龙”硬科技底座的关键基础设施，构成“应用—算法—芯片—测试”的完整本地闭环。国磊GT600SoC测试机广适用于AI、移动、物联网、汽车、工业等领域的SoC研发与量产验证。

杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其面向AI芯片特性的高性能参数和灵活架构，精细契合当前人工智能产业爆发式发展的**需求。高测试速率（100/400 MHz）——支撑AI芯片高速接口验证，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，数据传输速率高达数Gbps。400 MHz测试速率可完整覆盖AI SoC中高速I/O的功能与时序验证，确保在真实工作频率下稳定运行。随着大模型训练对带宽需求激增，国产AI芯片亟需高效验证平台，GT600成为打通“设计—验证—量产”闭环的关键工具。国磊GT600SoC测试机有灵活的硬件配置和开放的软件平台，适配多种工艺节点、封装形式和功能架构的SoC。赣州CAF测试系统现货直发

工艺微缩致亚阈值漏电栅极漏电增加，微小漏电异常缩短电池寿命，GT600快速筛选出“坏芯”，确保量产良率。杭州国磊GEN3测试系统供应

工业物联网的“量产引擎” 工业物联网（IIoT）设备对芯片的可靠性与成本极为敏感，且需求量大。杭州国磊GT600的512站点并行测试能力，可一次测试512颗MCU或传感器芯片，极大提升测试吞吐量，***降低单颗测试成本。据行业测算，同测数每翻一倍，测试成本可下降30%以上。杭州国磊GT600支持长时间老化测试，筛选出能在高温、高湿、强电磁干扰环境下稳定运行的“工业级”芯片。其GTFY系统支持STDF数据导出，可无缝对接工厂MES系统，实现良率分析与智能制造。杭州国磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的优势，为国产IIoT芯片的大规模量产提供强大引擎，助力中国智造走向全球。杭州国磊GEN3测试系统供应