湘潭CAF测试系统工艺

Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet（芯粒）技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成，突破摩尔定律瓶颈，成为先进制程的重要方向。然而，小芯片间的高速互联（如UCIe）对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度，可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块（Micro-bump）的供电稳定性，检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗，确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展，可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***，杭州国磊GT600以高精度互联验证能力，为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。国磊GT600SoC测试机可用于执行电压裕量测试（VoltageMargining），评估芯片在电压波动下的稳定性。湘潭CAF测试系统工艺

国磊（Guolei）SoC测试系统，特别是其GT600高性能测试平台，在当前全球半导体产业链高度竞争与地缘***风险加剧的背景下，对保障中国半导体及**制造领域的供应链安全具有战略意义。打破**ATE设备进口依赖 自动测试设备（ATE）是芯片制造后道工序的**装备，长期被美国泰瑞达（Teradyne）、日本爱德万（Advantest）等国际巨头垄断，尤其在高性能SoC、AI芯片、车规芯片测试领域，国产设备几乎空白。国磊GT600实现了400MHz测试速率、2048通道扩展、高精度AWG/TMU等关键技术指标的突破，具备替代进口设备的能力。这***降低了国内晶圆厂、封测厂和芯片设计公司在**测试环节对国外设备的依赖，避免因出口管制、断供或技术封锁导致产线停摆。国产替代PCB测试系统定制国磊GT600SoC测试机作为一款通用型高jiATE，其设计目标是支持广类型的复杂SoC芯片的测试验证。

面对AI架构日新月异（如存算一体、稀疏计算、类脑芯片），测试平台必须具备高度灵活性。GT600采用开放软件架构，支持C++、Python及Visual Studio开发环境，允许用户自定义测试逻辑、数据分析模块与自动化脚本。高校、初创企业甚至“六小龙”中的技术团队均可基于GT600快速搭建专属验证方案，无需依赖封闭厂商的黑盒工具链。这种开放性极大缩短了从算法原型到芯片验证的周期，使杭州成为AI芯片创新的“快速试验田”。GT600不仅是量产设备，更是推动中国AI底层硬件从“跟随”走向“原创”的创新引擎。

现代AI芯片集成度极高，动辄拥有上千引脚，传统测试设备因通道数量不足，往往需分时复用或多轮测试，不仅效率低下，还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道，可一次性完成全引脚并行测试，确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***，GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具，大幅缩短芯片从流片到量产的周期，助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。

AI芯片市场竞争激烈，测试成本直接影响产品定价与市场渗透率。GT600支持高达512 Sites的并行测试能力，意味着单次测试可同时验证数百颗芯片，将单位测试时间压缩至传统设备的1/10以下。结合其高稳定性与自动化软件平台，整体测试成本可降低70%以上。这一优势对年出货量达百万级的边缘AI芯片、智能摄像头主控、机器人控制器等产品尤为关键。杭州国磊通过GT600构建的“超级测试流水线”，不仅提升了国产芯片的量产效率，更增强了中国AI硬件在全球市场的价格竞争力，真正实现“测得起、卖得快、走得远”。国磊GT600SoC测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境，便于实现HBM协议定制化测试算法。杭州PCB测试系统供应

界面友好，操作简便，极大降低使用门槛与培训成本。湘潭CAF测试系统工艺

高同测能力加速智能驾驶芯片量产进程。智能驾驶芯片往往需要大规模部署于整车厂供应链中，对测试效率和成本控制极为敏感。杭州国磊GT600支持比较高512 Sites的并行测试能力，意味着可在单次测试周期内同时验证数百颗芯片，极大缩短测试时间、降低单位测试成本。这种高同测（High Parallel Test）特性对于满足车规级芯片动辄百万级出货量的需求至关重要。此外，其开放式GTFY软件平台支持工程模式与量产模式无缝切换，便于在研发验证与大规模生产之间灵活调配资源，确保智能驾驶芯片在严格的时间窗口内完成认证与交付。湘潭CAF测试系统工艺