车规级MEMS传感器包括用于ESP车身稳定系统的高g加速度计、发动机歧管压力传感器等,需满足AEC-Q100认证。杭州国磊(Guolei)支持点:支持-40℃~125℃环境应力测试(通过GPIB/TTL对接温箱);高可靠性测试流程(如HAST、HTOL前后的参数对比);数据自动记录为STDF格式,便于车厂追溯与良率分析;每引脚PPMU检测早期失效(如漏电流异常)。生物医疗MEMS如植入式压力传感器、微流控芯片控制器,对低功耗与长期稳定性要求极高。杭州国磊(Guolei)支持点:nA级静态电流测量(PPMU);**噪声激励与采集,避免干扰生物信号;支持长期老化测试中的周期性参数回读。杭州国磊(Guolei)SoC测试系统不直接测试MEMS的机械或物理特性(如谐振频率、Q值、位移等),但***覆盖MEMS产品中不可或缺的电子控制与信号处理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能与可靠性验证。在消费电子、汽车电子、工业物联网和新兴智能硬件领域,杭州国磊(Guolei)GT600已成为国产MEMS厂商实现高精度、高效率、低成本、自主可控测试的重要平台,有力支撑中国MEMS产业链从“制造”向“智造”升级。 外接偏置电压可达3000V,满足高压环境下的CAF试验要求。常州CAF测试系统

杭州国磊GT600提供高达128M的向量存储深度,相当于可存储1.28亿个测试步骤,这是保障复杂芯片测试完整性的关键。现代SoC的测试程序极为庞大,如AI芯片运行ResNet-50模型推理、手机SoC执行多任务调度、通信芯片处理完整5G协议栈,这些测试序列动辄数百万甚至上千万向量。若向量深度不足,测试机需频繁从硬盘加载数据,导致测试中断、效率骤降。杭州国磊GT600的128M深度可将整个测试程序一次性载入内存,实现“全速连续运行”,避免性能瓶颈。在工程调试阶段,长向量也便于复现偶发性失效。对于需要长时间稳定性测试的车规芯片,128M空间可容纳老化测试的完整循环序列。这一参数确保杭州国磊GT600能应对未来更复杂的芯片验证需求。高性能绝缘电阻测试系统研发国磊GT600可用于测量电源上电时序(PowerSequencing),确保多域电源按正确顺序激发,避免闩锁效应。

杭州国磊SOC测试机:开启全场景智能测试新纪元在半导体测试领域,杭州国磊SOC测试机凭借***性能与创新技术脱颖而出,成为行业焦点。作为杭州国磊半导体设备有限公司的**产品,它专为系统级芯片(SoC)测试量身打造,以“弹性扩展+国产自研+全栈覆盖”三大**优势,为芯片测试提供一站式解决方案。 杭州国磊SOC测试机采用模块化弹性架构,拥有GC-36旗舰型、GC-18性能型、GC-8经济型三阶主机箱,灵活适配不同规模产线与实验室验证需求。其***“硬对接+线缆双模式”,支持机柜、桌面、机端部署,极大提升了设备部署的便捷性与灵活性。 在性能方面,杭州国磊SOC测试机实现多项突破。数字信号速率高达800Mbps,向量存储深度达128M,支持多站点并行测试,单机可同步运行32个测试单元,测试吞吐量提升300%,***缩短测试周期。同时,其高压测试范围覆盖-10V至+1000V,时间测量精度达1ps分辨率,满足**AD/DA芯片、MCU微控制单元等复杂芯片的严苛测试需求。 作为国产自研的典范,更在服务响应速度与定制化能力上**一步。其全流程测试覆盖能力,涵盖数字、电源、高压、大功率、射频分析等六大核心板卡矩阵,为芯片从研发到量产的全生命周期提供坚实保障。
兼容探针台与分选机,打通晶圆到封装测试链路。智能驾驶芯片需经历晶圆测试(CP)与封装测试(FT)双重验证。杭州国磊GT600支持GPIB、TTL等标准接口,可无缝对接主流探针台与分选机设备,实现从裸片到成品的全流程自动化测试。尤其在高温、低温等车规级应力测试条件下,杭州国磊GT600的小型化、低功耗设计有助于在温控腔体内稳定运行,确保测试数据的一致性与可重复性,为芯片通过AEC-Q100认证提供可靠数据支撑。国产**测试设备助力智能驾驶产业链自主可控在全球半导体供应链紧张与技术封锁背景下,国产高性能测试设备的战略意义凸显。杭州国磊GT600作为国内少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC测试机,已获得行业专业客户认可,标志着我国在**ATE领域取得突破。对于智能驾驶这一关乎国家交通安全与科技**的关键赛道,采用国磊GT600不仅可降低对国外测试设备的依赖,更能通过本地化技术支持快速响应芯片厂商的定制需求,加速中国智能驾驶芯片生态的自主化与全球化进程。 国磊GT600SoC测试机支持Real-time与Pattern-triggered频率测试模式,适用于HBM时钟网络稳定性分析。

现代AI芯片集成度极高,动辄拥有上千引脚,传统测试设备因通道数量不足,往往需分时复用或多轮测试,不仅效率低下,还可能遗漏关键时序问题。杭州国磊GT600比较高支持2048个数字通道,可一次性完成全引脚并行测试,确保高速数据总线、多核NPU互连、HBM内存接口等复杂结构的功能完整性与时序一致性。这一能力对寒武纪、壁仞、燧原等国产AI芯片企业尤为重要。在大模型训练芯片追求***带宽与低延迟的***,GT600的高通道密度成为验证真实工作负载下系统稳定性的关键工具,大幅缩短芯片从流片到量产的周期,助力国产AI算力快速落地数据中心与边缘场景。支持Windows 7/8/10系统,软硬件兼容性强,部署便捷。珠海SIR测试系统定制
选择国磊,就是选择了超预期的测试技术与成本控制。常州CAF测试系统
智能驾驶对高性能SoC芯片的依赖日益加深。随着L2+至L4级自动驾驶技术的快速演进,车载计算平台对SoC(系统级芯片)的性能、可靠性与实时性提出了前所未有的高要求。这些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速单元,用于处理多传感器融合、路径规划与决策控制等复杂任务。然而,如此复杂的芯片架构对测试环节构成了巨大挑战。杭州国磊GT600 SoC测试机凭借高达400 MHz的测试速率、512至2048个数字通道以及每通道高达128M的向量存储深度,能够高效覆盖智能驾驶SoC在功能验证阶段所需的高并发、高精度测试场景,为芯片从设计到量产提供坚实保障。常州CAF测试系统
面对AI架构日新月异(如存算一体、稀疏计算、类脑芯片),测试平台必须具备高度灵活性。GT600采用开放软件架构,支持C++、Python及Visual Studio开发环境,允许用户自定义测试逻辑、数据分析模块与自动化脚本。高校、初创企业甚至“六小龙”中的技术团队均可基于GT600快速搭建专属验证方案,无需依赖封闭厂商的黑盒工具链。这种开放性极大缩短了从算法原型到芯片验证的周期,使杭州成为AI芯片创新的“快速试验田”。GT600不仅是量产设备,更是推动中国AI底层硬件从“跟随”走向“原创”的创新引擎。国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口,如快速唤...