这款高精密环控柜是我司单独研发的精密环境控制设备，可达成ISOClass1-6级洁净度，以及±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.002℃等多级温度波动控制精度。依托全场景非标定制能力，能满足用户在温湿度稳定性、洁净度、抗微振、防磁、隔音等多方面的个性化需求。设备具备运行数据实时记录与查询功能，并配备自动安全防护系统，确保长期稳定运行。其构成包括主柜体、控制系统、气流循环系统、洁净过滤器、制冷（热）系统、照明系统及局部气浴等，专为光刻机、激光干涉仪等精密测量与制造设备，提供超高精度的温湿度及洁净度工作环境。该系统采用“外环境保障相对湿度、大环境稳定绝dui含湿量”的逻辑，通过精zhun控温实现仓内湿度达标。为满足严苛要求，采用大风量小温差设计，快速循环过滤空气并带走余热，使关键区域温度波动低至±0.002℃；同时通过多级控温（表冷盘降温+多级电加热升温），将精度从±0.1℃逐步提升至±0.002℃。晶圆需要经历一系列高精度的蚀刻、涂层、光刻等工艺，这些工艺都需要在特定的温度范围内进行。计量精密温控稳定性
极测方案：蕞高±0.002℃精密温控，铸就测量 “计量基准”控温精度：提供业界前列的 ±0.002℃高精密温度控制能力，温度水平均匀性严格控制在 <16mK/m 范围内，确保测量过程的稳定性和 0.1% 的控制输出精度。
湿度与洁净协同保障：设备同时实现 ±0.5%@8h 的高湿度稳定性，杜绝因湿度问题导致的零部件腐蚀和镜片结雾风险。洁净度控制可达百级以上，关键工作区蕞高优于 ISO class3 标准，严防尘埃颗粒干扰精密光路。
全方wei环境定制：极测具备强大的全场景非标定制能力，不仅能满足严苛的温湿度稳定性需求，还能根据用户具体场景定制抗微振、防磁、隔音等综合环境参数，为干涉仪量身打造理想的工作空间。
辽宁极测精密温控极测（南京）拥有自己的工厂，能够有效地将研发成果转化为实际产品。
极测微环境控制系统运用自主研发的高精密控温技术，控制输出精度达 0.1%，设备内部温度稳定性关键区域可达 +/-2mK（静态），温度水平均匀性小于 16mK/m。这一精度确保了在立式干涉仪运行时，光学元件与机械结构不受温度波动干扰，始终维持在蕞佳工作状态，微环境控制系统为精zhun测量提供稳定基础。
极测（南京）技术有限公司的精密水冷冷冻水机组凭借毫 K 级控温精度（±0.001℃）、快速响应能力及高稳定性设计，成为半导体制造中蚀刻与沉积设备、晶圆制造、芯片测试等关键环节的标配温控设备。本文结合半导体工艺对温度的严苛需求，解析该机组如何通过专li技术实现全流程温度精zhun控制，助力提升芯片良率与生产效率，为半导体行业用户提供温控设备选型与应用参考。
在半导体制造向 3nm 甚至更小制程突破的today，精密水冷冷冻水机组已从 “辅助设备” 升级为 “关键工艺设备”。极测（南京）技术有限公司的产品凭借毫 K 级控温、全流程适配及高可靠性，正在助力国内晶圆厂、封测厂及研发机构攻克温度敏感型工艺难题。对于半导体行业而言，选择一款能够精zhun匹配蚀刻、沉积、晶圆生长、芯片测试等全场景需求的温控设备，不仅是提升良率的关键，更是在全球半导体竞争中构建技术壁垒的重要一环。
极测精密温控设备已成为半导体企业、典型通信设备商、显示面板前列品牌及众多重量级实验室的合作伙伴。
极测（南京）致力于为芯片半导体、电子信息、光学仪器、精密制造、新能源、航空航天等行业提供高质量的高精密环境解决方案，是一家为行业创造价值、深获客户信赖的杰出企业。我们拥有一支强大的研发及设计团队，涵盖了产品经理、结构工程师、暖通专业人员、电气自控专业人员等各类专业人才。这支多元化的团队凭借深厚的专业知识和丰富的实践经验，能够满足客户的多样化需求。此外，公司还拥有自己的工厂，能够有效地将研发成果转化为实际产品，为众多矢口名公司提供了高质量的设备和服务。我们的解决方案集成了精密温控、洁净控制、湿度控制（蕞高±0.3%RH）、及抗微振功能的综合环境配套系统。北京科研实验精密温控
智能闭环监控：内置自动安全保护系统，异常情况即时响应，故障自动处理机制确保设备 7x24 小时无忧运行。计量精密温控稳定性
极测的精密温控箱罩专为满足三坐标测量仪等精密设备的严苛环境需求而设计。其具备的 ±0.002℃高精密温度控制能力，犹如为三坐标测量仪构建了一个恒温 “堡垒”。精密温控箱罩运用自主研发的高精密控温技术，确保精密温控箱罩内部温度稳定性关键区域可达 +/-2mK（静态），温度水平均匀性小于 16mK/m。保证测量仪在长时间运行过程中始终保持稳定的测量精度，实现0.1% 的控制输出精度。除了温度控制，精密温控箱罩在湿度和洁净度方面同样表现。精密温控箱罩内部湿度稳定性可达 ±0.5%@8h，避免了因湿度问题导致的测量仪零部件生锈、电子元件短路等故障，延长了设备使用寿命。同时，该系统可实现百级以上洁净度控制，内部洁净度蕞高可优于 ISO class3（设备工作区），有效防止灰尘等微小颗粒附着在测量仪的光学部件或被测工件表面，避免对测量精度造成干扰。计量精密温控稳定性
