GT600每通道集成PPMU,支持nA级电流分辨率,可精确测量被电源门控关闭的模块在“关断状态”下的漏电流。通过对比门控开启与关闭时的电流差异,评估电源开关的隔离能力,确保未**模块不会产生异常功耗。2.GT600支持可选配高精度浮动SMU板卡,可为SoC的不同电源域提供**的电压施加与电流监测。在电源门控测试中,可通过SMU分别控制主电源与门控电源的开启/关闭时序,验证电源域之间的依赖关系与上电顺序,防止闩锁或电压倒灌。3.GT600配备GT-TMUHA04时间测量单元,提供10ps时间分辨率,用于测量从门控信号有效到目标模块恢复供电的时间、模块唤醒后功能恢复的响应延迟、确保电源门控机制在满足低功耗要求的同时,不影响系统实时性。4.通过GTFY软件系统与C++编程,工程师可编写脚本实现循环执行“上电→功能测试→门控关断→延时→唤醒”流程;扫描不同关断时长对唤醒成功率的影响;监测多次开关操作后的电流一致性,评估可靠性。5.GT600支持高采样率的动态电流监测,可捕获电源门控开启瞬间的浪涌电流,避免因瞬时电流过大导致电压塌陷或系统复位。结合Digitizer功能,记录电压/电流波形,用于分析电源稳定性与去耦电容设计有效性。国磊GT600GT-TMUHA04时间测量单元支持0.1%读数精度±10ps,可用于传感器接口芯片的时序响应与延迟测量。深圳SIR测试系统市价

天玑9000系列的成功,标志着国产手机SoC在AI赛道的**崛起。而其背后,离不开从设计、制造到测试验证的完整产业链支撑。国磊GT600测试机凭借其高通道密度、高并行能力、混合信号支持与开放C++软件架构,已成为**SoC测试的关键基础设施。它不**支持STDF等标准数据格式输出,便于良率分析与AI模型训练反馈,还可通过GPIB/TTL接口与探针台、分选机联动,构建全自动CP/FT测试流程。选择国磊GT600测试机,就是选择一条高效、自主、面向AI时代的SoC测试之路。国产替代高阻测试系统研发国磊GT600通过SMU或Digitizer监测目标电源域电压,若在门控关闭后电压仍维持非零值,表明电源未真正切断。

AI眼镜作为下一代智能终端,集成了**头、语音交互、AR显示与边缘AI计算功能,其**是一颗高集成度的SoC芯片。这颗芯片需在极低功耗下运行大模型推理、图像处理与传感器融合,对性能与可靠性提出***要求。国磊GT600等SoC测试机正是确保这类芯片“万无一失”的关键。首先,AI眼镜的SoC包含CPU、NPU、ISP、蓝牙/WiFi基带等多种模块,属于典型混合信号芯片。国磊GT600凭借可选配的AWG和TMU,能同时验证数字逻辑与模拟电路,确保摄像头图像清晰、无线连接稳定、语音响应及时。其次,AI眼镜依赖电池供电,功耗控制极为敏感。国磊GT600的PPMU可精确检测芯片的静态漏电流(Iddq)和动态功耗,筛选出“省电体质”的芯片,直接决定眼镜的续航能力。再者,AI眼镜需7x24小时佩戴使用,可靠性至关重要。国磊GT600通过高温老化测试、高速功能验证,提前发现潜在缺陷,避免用户端出现死机、发热等问题。AI眼镜量产规模大,成本敏感。国磊GT600支持512站点并行测试,大幅提升效率,降低单颗芯片测试成本,助力产品上市。可以说,国磊GT600不仅可以做AI眼镜SoC的“体检官”,更能做其性能、续航与可靠性的“守门人”。在轻巧镜架之下,正是这样严苛的测试,让“智能随行”真正成为可能。
AI眼镜的轻量化设计要求SoC具备极高的功能密度与能效比,其内部状态机复杂,需支持多种低功耗模式(如DeepSleep、Standby)与快速唤醒机制。GT600的GT-TMUHA04时间测量单元提供10ps分辨率与0.1%测量精度,可精确测量SoC从休眠到**的响应延迟,确保用户语音唤醒、手势触发等交互的实时性。其32/64/128M向量存储深度支持复杂状态机序列测试,覆盖AI推理、传感器融合、无线传输等多任务并发场景。国磊GT600测试机支持C++编程与VisualStudio开发环境,便于实现定制化低功耗测试流程,如周期性唤醒、事件驱动中断等典型AI眼镜工作模式的自动化验证。国磊GT600支持电压/电流源同步扫描功能,可用于BGR(带隙基准)温度特性与电源抑制比(PSRR)自动化测试。

国产手机自研芯片体系——包括手机SoC(如麒麟系列)、服务器芯片(如鲲鹏)、AI加速芯片(如昇腾Ascend)——不仅是产品竞争力的**,更是中国半导体自主可控的战略支点。这些芯片高度集成、性能***、功耗敏感,对测试设备的全面性、精度、效率和灵活性提出前所未有的挑战。国磊GT600SoC测试机,正是为这类**国产芯片量身打造的“全能考官”。国磊GT600不仅能验证手机SoC的CPU/GPU的基础逻辑功能,更能通过可选配的AWG(任意波形发生器),模拟真实世界的模拟信号,精细测试ISP图像处理单元对摄像头输入信号的响应质量,确保拍照清晰、色彩准确;通过高精度TMU(时间测量单元,精度达10ps),验证5G基带芯片的信号时序与抖动,保障通信稳定低延迟;通过每通道PPMU,检测NPU在待机与高负载下的微小漏电流,确保AI算力强劲的同时功耗可控。 多通道分组测试,支持64/128/256可选配置,大幅提升检测效率。高性能GEN3测试系统定制
精密的电流检测能力,实时捕捉微小电流变化。深圳SIR测试系统市价
杭州国磊半导体设备有限公司深刻洞察国内产业对CAF测试装备的迫切需求,成功研发了GM8800导电阳极丝(CAF)测试系统。该系统具备强大的256通道并行测试能力,电阻测量范围高达10^14Ω,测量精度优异,能够精细评估PCB内部、封装材料、基板等在不同偏压和湿热条件下的绝缘电阻变化趋势,有效预警因导电阳极丝生长导致的短路风险。GM8800提供高度灵活的电压输出配置,内置精密源表单元(0V~±100V),外接偏置电压可达3000V,电压控制精度高,上升速度快,且测试电压稳定时间可自由设定(1~600秒),完美适配各种加速测试方案。系统***集成数据采集功能,实时记录时间、电阻、电流、电压、温度、湿度等参数,并通过专业软件进行自动化数据分析和可视化展示,支持远程监控功能。其设计注重安全与可靠性,配备多层次报警系统(低阻、停机、环境参数、电源、软件状态)和断电保护机制。与英国GEN3等进口产品相比,GM8800在**性能指标上达到国际先进水平,同时拥有更优的通道性价比、更低的运维成本和更便捷的本土化服务支持,已成为国内**的PCB制造商、芯片封装厂、汽车电子供应商及科研机构进行产品可靠性研究与品质管控的可靠伙伴,助力中国智造迈向新高。深圳SIR测试系统市价
面对AI架构日新月异(如存算一体、稀疏计算、类脑芯片),测试平台必须具备高度灵活性。GT600采用开放软件架构,支持C++、Python及Visual Studio开发环境,允许用户自定义测试逻辑、数据分析模块与自动化脚本。高校、初创企业甚至“六小龙”中的技术团队均可基于GT600快速搭建专属验证方案,无需依赖封闭厂商的黑盒工具链。这种开放性极大缩短了从算法原型到芯片验证的周期,使杭州成为AI芯片创新的“快速试验田”。GT600不仅是量产设备,更是推动中国AI底层硬件从“跟随”走向“原创”的创新引擎。国磊GT600SoC测试机的10ps分辨率TMU可用于验证先进节点下更严格的时序窗口,如快速唤...