深圳SIR测试系统厂家

HBM接口动辄上千个高速信号引脚，数据速率高达Gbps级别，对测试设备的通道密度、测试速率与时序精度提出极限挑战。国磊GT600测试机以400MHz测试速率和**2048个数字通道的强大配置，从容应对HBM接口的高并发、高速逻辑测试需求。其128M向量存储深度可完整运行复杂协议测试Pattern，确保功能覆盖无遗漏。更关键的是，GT600支持512Sites高并行测试，大幅提升测试吞吐量，**降低AI芯片的单颗测试成本。在HBM驱动的算力**中，GT600不**是测试工具，更是提升国产AI芯片量产效率与市场竞争力的**引擎。当电源门控开关未完全关断时被关闭模块仍会产生异常漏电。国磊GT600通过PPMU测量被门控电源域的静态电流。深圳SIR测试系统厂家

“风华3号”的推出标志着国产全功能GPU在大模型训练、科学计算与重度渲染领域实现从0到1的突破。其集成RISC-VCPU与CUDA兼容GPU架构，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生态，对芯片功能复杂度、接口带宽与时序精度提出了极高要求。此类高性能GPU通常具备数千个逻辑引脚、多电源域、高速SerDes接口及复杂状态机，传统测试设备难以完成**验证。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道与400MHz测试速率，可完整覆盖“风华3号”类GPU的高引脚数、高速功能测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂计算指令序列的Pattern加载，确保GPU**、NPU单元及RISC-V子系统的功能正确性。深圳SIR测试系统厂家强大的软件系统，提供实时数据采集和深度分析功能。

GM8800CAF测试系统支持1-9999小时持续测试（约416天），搭载三级UPS断电保护（30/60/120分钟可选）。在-55℃~125℃极端温度循环中，系统维持10¹³-10¹⁴Ω区间±8%测量精度。256通道同步监测能力可捕捉<15ms的微秒级短路脉冲，配合时间戳（采样/运行/总时长三维记录），完整还原卫星载荷PCB的CAF失效轨迹。行业认证测试表明：在75%RH高湿环境下，系统对离子迁移行为的预警准确率达99.2%，已经达到国际先进水平，技术上实现国产替代。

国磊半导体GM8800导电阳极丝测试系统是国产CAF测试仪器实现创新突破的代表性产品。该系统以其可扩展至256通道的强大并行处理能力、高达10^14Ω的超宽电阻测量范围和优异的精度（±3%~±10%），为绝缘材料的可靠性评估设立了新的**。GM8800提供精确且稳定的电压应力源，内置0V~±100V，外接高达3000V，电压输出精度高，调节步进小，建立速度快，并可自定义1~600秒的测试电压稳定时间，确保各种测试条件都能被精确复现。系统具备***的实时监测功能，同步采集电阻、电流、电压、温度、湿度数据，并通过专业软件进行高效管理与深度分析，用户还可通过网络实现远程操作与实时监控。其坚固的硬件平台辅以多层次的安全保护设计，包括多种故障报警和断电续航能力，保障系统能够稳定运行长达9999小时的持续测试任务。与传统的进口设备如英国GEN3相比，GM8800在提供同等前列测量性能的同时，在采购成本、使用灵活性、维护便利性以及技术服务响应速度上展现出***优势，正广泛应用于国内PCB制造、IC封装、汽车电子、航空航天等领域，成为客户提升产品质量、进行可靠性验证和实现进口替代的**装备。国磊GT600SoC测试机高密度集成设计降低系统体积与功耗，适配高通道数HBM测试的紧凑型测试台架部署。

在现代手机SoC中，高速接口如LPDDR5内存、PCIe4.0存储、USB3.2/4.0数据传输等，已成为性能瓶颈的关键环节，其协议复杂、时序严苛，对测试设备的速率和深度提出极高要求。国磊GT600支持400MHz测试速率，可精细模拟高速信号边沿与时钟同步，确保接口在极限频率下稳定工作；其128M超大向量深度，足以容纳完整的AI大模型推理流程、多任务并发调度等长周期测试用例，避免传统设备因内存不足频繁加载数据导致的测试中断或覆盖不全，真正实现“一次加载，全程跑完”，保障功能验证的完整性与可靠性。AI边缘计算SoC用于机器人、穿戴设备MCU+AI架构芯片，GT600通过nA级PPMU、TMU支持端侧AI低功耗可靠性测试。江苏PCB测试系统批发

国磊GT600的SMU覆盖从高压IO（3.3V）到低电压he心（0.6V~1.2V）的多种电源域，适配不同节点供电要求。深圳SIR测试系统厂家

每一部智能手机的**都是一颗名为SoC的“超级大脑”。以苹果为例，每一代iPhone都搭载自研的A系列或M系列芯片（如A18、M4）。这颗芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基带、内存控制器等数十个模块。但这颗芯片在量产前，必须经历SoC测试机成千上万次的测试。比如功能验证：检查芯片的每一个逻辑门是否正常工作。当你用iPhone拍照时，ISP是否能正确处理图像？A18芯片的NPU是否能准确识别人脸？国磊GT600芯片测试机会模拟各种使用场景，输入测试向量，验证输出结果。性能筛选：国磊GT600SoC芯片测试机会进行速度分级测试，将芯片分为不同等级。只有通过最高速度测试的芯片，才会被用于旗舰机型。功耗与漏电检测：手机续航至关重要。国磊GT600芯片测试机的PPMU能精确测量芯片的静态电流（Iddq），确保待机时不“偷电”，避免手机“一天三充”。可靠性保障：在极端温度、电压下运行芯片，筛选出可能早期失效的“弱鸡芯片”。国磊GT600芯片测试机支持老化测试，确保每一颗装进iPhone的芯片都经得起长期使用。混合信号测试：现代SoC不仅有数字电路，还有大量模拟模块（如音频编解码、电源管理）。国磊GT600芯片测试机可选配AWG和TMU，精确测试这些模拟功能，确保通话清晰、充电稳定。深圳SIR测试系统厂家