肇庆N沟道场效应管测量方法

场效应管是一种电压控制器件，其工作原理是通过改变栅极（Gate）与源极（Source）之间的电压来控制漏极（Drain）与源极之间的电流。与传统的双极型晶体管（BJT）相比，FET只利用单一类型的载流子（电子或空穴）进行导电，因此也被称为单极型晶体管。分类：结型场效应管（JFET）：基于PN结形成的通道，分为N沟道JFET和P沟道JFET。绝缘栅型场效应管（MOS管）：分为增强型MOS管和耗尽型MOS管，每种类型又分为N沟道和P沟道。耗尽型MOS管：在栅极电压（VGS）为零时，耗尽型MOS管已经形成了导电沟道，即使没有外加电压，也会有漏极电流（ID）。这是因为在制造过程中，通过掺杂在绝缘层中引入正离子，使得在半导体表面感应出负电荷，形成导电沟道。增强型MOS管：在VGS为零时是关闭状态，不导电。只有当施加适当的正向栅极电压时，才会在半导体表面感应出足够的多数载流子，形成导电沟道。场效应管具有很高的耐压特性，可承受较高的电压，适用于高压电路。肇庆N沟道场效应管测量方法

场效应管主要参数：场效应管的参数很多，包括直流参数、交流参数和极限参数，但普通运用时主要关注以下一些重点参数：饱和漏源电流IDSS，夹断电压Up，（结型管和耗尽型绝缘栅管，或开启电压UT（加强型绝缘栅管）、跨导gm、漏源击穿电压BUDS、较大耗散功率PDSM和较大漏源电流IDSM。一、饱和漏源电流，饱和漏源电流IDSS：是指结型或耗尽型绝缘栅场效应管中，栅极电压UGS＝0时的漏源电流。二、夹断电压，夹断电压Up是指结型或耗尽型绝缘栅场效应管中，使漏源间刚截止时的栅极电压。肇庆N沟道场效应管测量方法场效应管驱动电路简单，只需一个电压信号即可实现控制，降低电路复杂度。

测试步骤：MOS管的检测主要是判断MOS管漏电、短路、断路、放大。其步骤如下：假如有阻值没被测MOS管有漏电现象。1、把连接栅极和源极的电阻移开，万用表红黑笔不变，假如移开电阻后表针慢慢逐步退回到高阻或无限大，则MOS管漏电，不变则完好。2、然后一根导线把MOS管的栅极和源极连接起来，假如指针立刻返回无限大，则MOS完好。3、把红笔接到MOS的源极S上，黑笔接到MOS管的漏极上，好的表针指示应该是无限大。4、用一只100KΩ－200KΩ的电阻连在栅极和漏极上，然后把红笔接到MOS的源极S上，黑笔接到MOS管的漏极上，这时表针指示的值一般是0，这时是下电荷通过这个电阻对MOS管的栅极充电，产生栅极电场，因为电场产生导致导电沟道致使漏极和源极导通，故万用表指针偏转，偏转的角度大，放电性越好。

静态电特性：注①：Vgs（off）其实就是开启电压Vgs（th），只不过这里看的角度不一样。注②：看完前文的读者应该知道为什么这里两个Rds（on）大小有差异，不知道的回去前面重新看。动态点特性：注①：Ciss = Cgs + Cgd ；Coss = Cds ；Crss = Cgd；注②：MOS管开启速度较主要关注的参数是Qg，也就是形成反型层需要的总电荷量！注③：接通/断开延迟时间t d(on/off)、上升/下降时间tr / tf，各位工程时使用的时候请根据实际漏级电路ID，栅极驱动电压Vg进行判断。场效应管的工作原理基于电场对半导体材料中电荷分布的影响，从而改变其导电性能。

什么是MOSFET，mos管是金属(metal)、氧化物(oxide)、半导体(semiconductor)场效应晶体管，或者称是金属—绝缘体(insulator)、半导体。MOS管的source和drain是可以对调的，他们都是在P型back gate中形成的N型区。在多数情况下，这个两个区是一样的，即使两端对调也不会影响器件的性能。这样的器件被认为是对称的。场效应管（FET），把输入电压的变化转化为输出电流的变化。FET的增益等于它的跨导， 定义为输出电流的变化和输入电压变化之比。市面上常有的一般为N沟道和P沟道，详情参考右侧图片（P沟道耗尽型MOS管）。而P沟道常见的为低压mos管。场效应管有三种类型，分别是MOSFET、JFET和IGBT，它们各自具有不同的特性和应用领域。徐州栅极场效应管参考价

在设计电路时，合理选择场效应管的型号和工作参数，以满足电路要求。肇庆N沟道场效应管测量方法

以N沟道为例，它是在P型硅衬底上制成两个高掺杂浓度的源扩散区N+和漏扩散区N+，再分别引出源极S和漏极D。源极与衬底在内部连通，二者总保持等电位。当漏接电源正极，源极接电源负极并使VGS=0时，沟道电流（即漏极电流）ID=0。随着VGS逐渐升高，受栅极正电压的吸引，在两个扩散区之间就感应出带负电的少数载流子，形成从漏极到源极的N型沟道，当VGS大于管子的开启电压VTN（一般约为+2V）时，N沟道管开始导通，形成漏极电流ID。场效应晶体管于1925年由Julius Edgar Lilienfeld和于1934年由Oskar Heil分别发明，但是实用的器件一直到1952年才被制造出来（结型场效应管，Junction-FET，JFET）。1960年Dawan Kahng发明了金属氧化物半导体场效应晶体管（Metal-Oxide-Semiconductor Field-effect transistor, MOSFET），从而大部分代替了JFET，对电子行业的发展有着深远的意义。肇庆N沟道场效应管测量方法