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在焊料中有AuSn4颗粒；图43（b）表示经过烘烤的试样，Ni3Sn4层长大，AuSn4从焊料内部向焊料和PCB基板的界面迁移。由于金属间化合物中Au和Sn的比为1:4，所以即使很少量的Au也会生成较厚的AuSn4。图43（c）表示经过烘烤再进行再流焊的试样焊点，AuSn4化合物从界面溶解进入焊点。2.试验证明：PBGA组件在150℃老化两周后的金脆，表明主裂纹在Au-Sn化合物和Ni-Sn化合物间扩展，裂纹穿过了Ni3Sn4和Ni（P）+层，如图44（a）所示。图44（a）（b）所示为PBGA一侧的SEM图。图中亮的区域为AuSn4化合物，暗的区域为Ni3Sn4化合物，亮的斑点为富Pb焊料。图44（c）（d）所示为PCB一侧的SEM图。图中亮的区域为Ni3Sn4化合物，暗的区域为Ni-P，亮的斑点为富Pb焊料。老化后PBGA组装件的断裂位置如图44所示，其断裂方式与上两种不同，它是在界面处的分层断裂而不是焊料的脆性断裂。这些镀金的PCB焊盘都存在金镀层是否需要“除金”，应该引起我们的高度重视。六.镀金引线除金的争议1.“镀金引线的除金处理”事关大局目前业界个别人对镀金引线的除金处理的必要性和可行性颇有微词。结合机械手臂应用，能够稳定可靠地实现IC、QFP、SOP、QFN、DIP等元器件引脚除金搪锡。浙江哪些搪锡机优势

所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成圆锥形，所述出锡口位于锥形喷嘴的顶部。进一步地说，所述喷嘴本体弧形斜面至少设有一个使锡流速减缓锡厚均匀的折流槽。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成的圆锥形时，其表面折流槽为环形或弧形。进一步地说，所述折流槽与喷嘴出锡口平行。本发明还提供一种搪锡装置，该搪锡装置包括搪锡喷嘴，该搪锡喷嘴包括使设有出锡口的喷嘴本体，该喷嘴本体设有使液态焊锡从其表面锡流形成焊锡膜的弧形斜面，该焊锡膜的厚度自上而逐渐变薄。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成圆锥形，所述出锡口位于锥形喷嘴的顶部。进一步地说，所述喷嘴本体弧形斜面至少设有一个使锡流速减缓锡厚均匀的折流槽。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成的圆锥形时，其表面折流槽为环形或弧形。进一步地说，所述折流槽与喷嘴出锡口平行。进一步地说，所述恒定送焊机构包括浸没于锡槽焊锡液内的锡腔，该锡腔一端与圆锥形喷嘴连通，该锡腔一端设有由恒定闭环的伺服马达驱动的叶轮，所述锡腔设有叶轮的一端还设有与锡槽连通的进锡口。进一步地说，所述搪锡系统还包括对搪焊引脚上助锡剂的上助锡剂装置。进一步地说。安徽哪里有搪锡机现货由于元件存储时间过长或存储不当造成的引脚氧化，造成引脚可焊性下降，搪揚工艺可以提高引脚的可焊性。

有足够的金元素向焊料中扩散而产生脆性。5）搪锡锡锅焊料中的金含量当锡锅搪锡时，对锅内焊料应定期更换，当溶于焊料中的金含量达到3%时，也会引起金脆。4.“金脆化”产生机理以图10所示的Au-Pb-Sn合金相图（176℃等温截面）为例，在含Sn量较多时，焊料中的Sn和Au容易形成针状AuSn4、AuSn2、AuSn等金属间化合物，在含金量较少的情况下，生成的AuSn4为多数；针状的AuSn4为脆性化合物，在测试、应用及试验的环境条件下极易脆断，导致焊接断裂失效。焊接时，Au与Sn-Pb焊料的相容性非常好，金在熔融状态的Sn-Pb合金中属于一种可熔金属，而且溶解速率很快。浸析的速度，通常可以用固体金属在焊料中的溶解率来表征。溶解率通常是用一根规定直径的导线完全溶解在焊料中所需的时间来表示。各种金属在Sn-Pb焊料中的溶解速度见图11。从图11可以看出，在焊接过程中，**先溶解到焊料中的是金，形成如图10所示的Au-Sn化合物。金在焊料中的熔解率随温度变化，在高温度下，6ms～7ms内，金的熔解和Au-Sn化合物的形成过程就可以结束。在直接焊接金镀层时，生成的Au-Sn合金层非常薄，当金的含量达到3%时，表面上焊点形成很好，但明显地表现出脆性，埋下**。必然带来结合部的性能变脆。

美国ACE公司推出“侧向波峰”喷嘴+高纯氮气搪锡工艺解决QFP器件的手工去金搪锡。该搪锡工艺利用侧向波峰喷嘴产生的瀑布式波峰洗涮掉原有镀层，同时通过手工控制搪锡过程中的撤离速度来消除桥联和过量的搪锡厚度。MLTS-200是全功能镀锡去金设备，集成了助焊剂涂敷功能、沉浸式镀锡系统和**的瀑布式去金、镀锡系统，可满足各类PHT和QFP等元器件的管脚镀锡去金工艺，，无桥连缺陷。2.全自动器件引脚除金搪锡设备系统“锡铅焊料引脚搪锡系统，用于所有通孔、SMT和QFP元件引脚的重新处理，以达到RoHS和Hi-Rel标准的要求”。1）主要功能（1）修复被氧化引脚：去除引脚表面的氧化层/镀层，并用熔化的Sn/Pb焊料重新搪锡。（2）引脚去金：将元件引脚浸沾在熔化的Sn/Pb焊料中，通过“溶解”的方式，去除元件引脚中的金成份。（3）减少锡须现象：用熔化合金替代镀锡。（4）将RoHS（无铅元件）转为Sn/Pb（有铅元件）。（5）将Sn/Pb（有铅元件）转为RoHS（无铅元件）。（6）提高器件的可焊性：搪锡之后的器件满足IPC/EIAJ-STD-001（IPC电气与电子组装件焊接要求）和ANSI-GEIA-STD-0006（美国电子工业标准-使用搪锡替代电子元件电镀的要求）规范的要求。。显示屏通常会显示当前的操作模式、操作进度、故障提示等信息。输入面板：用于输入参数.

而要获取明确的元器件引线和焊端表面金镀层厚度的信息也有不少难度，即使是电装工艺人员也必须“有心”，设计人员和管理人员就更难了。在这种情况下，高可靠电子产品的工艺人员和操作人员***能做的是对所有不应用“双上锡工艺和动态焊料波工艺”—即波峰焊工艺的元器件镀金引线和焊端一律进行2次搪锡除金处理。相比之下，QJ165B-2014和QJ3117A-2011的规定就明确得多，好得多，容易操作得多。QJ3117A-2011规定：“镀金的导线芯线、电子元器件的引线及焊端等，应按QJ3267-2006的规定进行除金与搪锡”。QJ165B-2014规定：镀金引线或焊端均应进行除金处理，不允许在镀金引线或焊端上直接焊接，镀金引线除金处理应符合QJ3267规定，要求如下：a）镀金引线除金应进行两次搪锡处理。两次搪锡应分别在两个焊料槽中操作；b）镀金引线搪锡的焊料槽，应定期分析焊料中的金和铜的总含量不应超过，否则应更换焊料；c）镀金引线的搪锡一般*局限于焊接部位。：“除金要确保所有元器件引线、端子、焊接接线柱在焊接前，其焊接表面至少95%以上的金应当被去除。将元器件安装到组件之前，两次上锡工艺或动态焊料波可用于除金”。IPC-STD-001F-2014第：执行除金是为了降低焊点脆化失效风险。在电子制作中，锡膏制备可能出现以下常见问题：原材料的选择不当：锡膏的原材料包括锡粉；浙江购买搪锡机哪里好

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断裂界面呈现出典型的脆性断裂失效特征，严重影响产品质量，甚至失去市场。而对于航天***电子产品，如果产生金脆化，则可能导致弹毁人亡、星毁人亡、机毁人亡的严重后果！本文是整个镀金元器件引线/焊端和镀金的PCB焊盘“除金”工艺的一个部分，是笔者历时五、六年与航天五院总工艺师范燕平、航天九院539厂总工艺师李其隆、中兴通信樊融融教授以及其他工艺人员共同研究的成果。例如元器件中的电连接器的焊杯，QFN的接地面，有铅元器件引线/焊端的Ni-Au镀层，无铅元器件引线/焊端的Ni-Pd-Au镀层；这些元器件引线/焊端镀金层中的含金量如果超过3%又不除金会怎么样？关于金脆的问题，贝尔研究所的弗·高尔顿·福克勒和马尔丁-欧兰德公司的杰·德·凯列尔等的研究报告中都有详细的分析。一般情况下，焊接的时间短，几秒内即可完成，所以金不能在焊料中均匀地扩散，这样就会在局部形成高浓度层。如果焊料中的金含量超过3%，焊出来的焊点就会变脆，机械强度下降。国内外航天**系统对于元器件镀金引脚“除金””是做的**好的，我们从表1中也可以看出，作为民用电子产品需要遵守的通用标准，IPC也同样有除金要求。浙江哪些搪锡机优势