一种带卡扣结构的电源连接器针座，包括针座外壳和针座内壳，针座内壳安装在针座外壳后端内侧，针座外壳内侧两端设有卡槽，针座内壳底部两端设有凸起部，凸起部安装在卡槽内，针座外壳内侧中部设有呈水平的第1PIN针，针座内壳后端安装有胶护套，胶护套内安装有呈L型的第二PIN针，第二PIN针底部与第1PIN针抵接，第二PIN针上部向上延伸出胶护套，针座外壳底部设有两个卡扣位。该针座组装方便，结构稳定，保持使用寿命长。其自动化程度和组装效率高，降低了劳动量，产品质量稳定，能有效提高产品合格率。针座保证设备的正常运行，提高安全性。东莞TE针座国产替代工厂
每节链条上设置有链条针座，每个链条针座上均设置有压布铗，压布铗包括可前后倾斜翻转的防护罩，与防护罩近底端两侧铰接的大附件，叠于大附件上的小附件，小附件中心与防护罩底端设置弹簧拉紧连接。解决了现有的多层定形机布料夹持困难的问题，很大简化了上料过程，并且结构简单，适于产业化应用。底座的上端通过外螺纹口连接有针座，针座的内部设置有弹性支撑件，弹性支撑件的下端固定有套筒，利于更换检修，便于携带运输，刺针放开时刺针散开均匀，防鸟效果更佳且不易伤害。北京2.0针座针座够增大PIN针的退PIN力，使PIN针不易被顶出。
针座是检测芯片的重要设备，在芯片的设计验证阶段，主要工作是检测芯片设计的功能是否能够达到芯片的技术指标，在检测过程中会对芯片样品逐一检查，只有通过设计验证的产品型号才会量产。晶圆测试一般在晶圆厂、封测厂或专门的测试代工厂进行，主要用到的设备为测试机和针座。半导体的测试环节，主要包括芯片设计中的设计验证、晶圆制造中的晶圆测试（CP测试）和封装完成后的成品测试（FT测试）。半导体测试设备主要包括测试机、针座和分选机。在所有的测试环节中都会用到测试机，不同环节中测试机需要和分选机或针座配合使用。
自动排气的输液针座，包括输液外管，输液外管上段的空腔内套装有输液内管，输液内管的上端沿输液外管伸出，输液内管的伸出端连接针头，输液内管的下端固接在输液外管上，输液内管的下端连接自排气组件，自排气组件由侧壁和底端组成，自排气组件与输液内管相通，自排气组件侧壁的下段开有通孔，自排气组件的侧壁与输液外管的内壁之间留有空隙。在输液内管底端固装自排气组件，自排气组件侧壁的下段开有通孔，使得无论针座处于竖直方向还是水平方向，空气都会由于其密度比液体密度小而浮在上方，那么液体会从通孔进入输液内管，从而达到可以自动排气的目的。针座能同时进行两个连接器针座产品的自动化组装，提高了产能。
针座为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使针座系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90˚C。现在，该范围已经扩大到-40˚C至125˚C，并且可能需要在此范围内的四个温度步骤中进行一整套测试。某些情况下需要更普遍的范围，如-55˚C至200˚C，晶圆可靠性测试可能要求高达300˚C的温度。针座可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力。韶关20p针座标准尺寸
针座有效防止布料与针板底面接触。东莞TE针座国产替代工厂
近来出现的一种选择是使用同轴射频电缆安装针座，它结合了针座准确性和可重复性的功能以及用针座可及性的功能。这些针座的边缘类似于针座针座夹具——接地-信号-接地（GSG）或者接地-信号（GS）——一端带有pogo-pin针座，另一端带有典型的同轴连接器。这些新型针座可以达到40GHz，回波损耗优于10dB。针座的针距范围在800微米到1500微米之间，这些针座通常使用的终端是3.5毫米母头或2.92毫米母头同轴连接器。与针座一样，可以在特定的测试区域中设计一个影响小的焊盘端口，或者可以将针座放置在靠近组件的端子或微带传输线上。东莞TE针座国产替代工厂
