通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至针座，然后通过针座至芯片上的焊点，到达被测器件，并后沿原路径返回测试仪器。如果获得的结果不尽如人意，问题可能是由测量仪器或软件所致，也可能是其它原因造成。通常情况下，测量仪器引进一些噪声或测量误差。而更可能导致误差的原因是系统的其它部件，其中之一可能是接触电阻，它会受针座参数的影响，如针座的材料、针尖的直径与形状、焊接的材质、触点压力、以及针座的平整度。此外，针座尖磨损和污染也会对测试结果造成极大的负面影响。针座可以利用真空吸嘴自动化装配的效果，节约了人工保证了产品品质。东莞弯针针座
半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：1.参数探测：提供制造期间的装置特性测量；2.晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；3.以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。重庆端子针座按需定制针座可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力。
针座主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，针座可吸附多种规格的芯片，并提供多个可调测试及探卡测试针台座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。根据导电性，材料被分为像铜一样导电的导体，像陶瓷一样不导电的绝缘体，还有导电性介于两者间的半导体。近，“半导体”也常被用来称呼利用半导体的特性制成的集成电路。
链轮式针座上安装多个吸种针，在吸种针圆周外侧部位处包容配置留有豁口的柔性护种带，柔性护种带由带辊Ⅰ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅳ，Ⅴ支撑，带辊Ⅰ为驱动辊，在随动轴上固装链轮式驱动套和转动套装链轮式针座，负压气道设置在随动轴上。在柔性护种带豁口部位处设置气体喷嘴和导种管;本器采用种子自身重力，旋转离心力和气流吹力的三力合一作用将种子从吸种针上卸下，完成气吸排种器的排种作业，具有排种可靠，漏播率低，作业故障少，结构紧凑，合理的特点。针座减少了穿刺次数给病人减少了反复穿刺的痛苦。
可提高产能和高效的连接器针座，其机台上装设有送料轨道，针座本体送料机构，推料机构，第1排pin针送料组装机构，第二排pin针送料组装机构，pin针整形机构，第1排pin针折弯机构，第二排pin针折弯机构和卸料机构，送料轨道通过支撑座固定在机台上，推料机构的推料部位从送料轨道的进料端插入到送料轨道的内部，其余机构分别沿送料轨道的送料方向依次排布。可实现将连接器针座的各部件自动组装成连接器针座产品，其自动化程度和组装效率高，降低了劳动量，产品质量稳定，能有效提高产品合格率，并且能同时进行两个连接器针座产品的自动化组装，提高了产能。针座能够实现柔性针穿刺的轨迹规划和避障运动。北京家电针座开发定制
针座降低了劳动量，产品质量稳定，能有效提高产品合格率。东莞弯针针座
针座概要：晶圆针座是在半导体开发和制造过程中用于晶片电气检查的设备。在电气检查中，通过针座或针座向晶片上的各个设备提供来自测量仪器或测试器的测试信号，并返回来自设备的响应信号。在这种情况下，晶片探测器用于输送晶片并接触设备上的预定位置。针座是检测芯片的重要设备，在芯片的设计验证阶段，主要工作是检测芯片设计的功能是否能够达到芯片的技术指标，在检测过程中会对芯片样品逐一检查，只有通过设计验证的产品型号才会量产。东莞弯针针座
