精细探测技术带来新优势：先进应力控制技术亦是必须的。为减少或消除造成良率下降之垫片损伤，在铜质垫片加上铝帽将能减少对易碎低K/高K介电的负面效应。以先进工艺驱动在有效区域上垫片的测试，以低冲击的针座，避免接触所产生阻抗问题。另一个可能损害到晶圆的来源是针座力道过猛或不平均，因此能动态控制针座强度也是很重要的；若能掌握可移转的参数及精细的移动控制，即可提升晶圆翻面时的探测精确度，使精细的Z轴定位接触控制得到协调，以提高精确度，并缩短索引的时间。针座其自动化程度和组装效率高。2.5间距针座工厂
针座为研究和工程实验室在测试运行期间移动通过多个温度点时，提供前所未有的自动化水平。这种新技术使针座系统能够感知，学习和反应以多温度和特征的极其复杂的环境。随着集成电路产品不断进入汽车应用等更高发热量的环境，在越来越宽的温度范围内表征器件性能和耐用性变得越来越重要。以前，大多数芯片在两个温度点进行晶圆级测试，通常为20˚C（室温）和90˚C。现在，该范围已经扩大到-40˚C至125˚C，并且可能需要在此范围内的四个温度步骤中进行一整套测试。某些情况下需要更普遍的范围，如-55˚C至200˚C，晶圆可靠性测试可能要求高达300˚C的温度。深圳3 4针座针座固定倒勾能够在该固定槽内移动。
电学测试全自动针座的应用及半导体晶圆的发展阐述：随着民用消费性电子产品的市场不断扩大，对于更小的装置以及更小的封装，需要更低成本的需求市场；同时对于复杂装置结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率的要求变得更高，都会对测试设备亦带来影响，由于芯片接脚愈趋小形化，用以和晶圆及针座连接的垫片，以及封装测试的驱动器也势必随之微缩。此外，汽车电子应用对于更宽广的温度测试范围的需求也是针座厂商需要提升自身设备技术规格以的主要任务。
如何将针座连接至待测点：(1)显微镜小倍数物镜下找到待测点（或附近的位置），使待测点成像清晰。(2)确认定位器XYZ三轴均中间行程位置（即各轴导轨端面螺丝对齐）。Z轴也可略向上错开3mm左右。(3)安装并调节好针座的高度，侧向平视，观察针座与样品台（或样品）间的距离（大概5mm，或略小于5mm）。可通过调节针座臂或针座臂适配器的高度进行粗调定位。(4)移动定位器，将所有针座移动至显微镜光斑下。此时通过目镜观察可看到针座的虚影（针座成像未实体化）。针座可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力。
孔座针座组件，包括针座和孔座，针座插入在孔座内部，在针座的侧部设有防呆柱，在孔座侧部设有与防呆柱配合的防呆槽，防呆柱为纵向设置的长方体防呆柱，防呆槽包括滑槽部以及与滑槽部连接在一起的深槽部。优点体现在:通过防呆柱及防呆槽的配合设计，使得产品在对配的过程中能够防止错误装配，有效提高预防错误装配的能力。提高了该装置的适用性，通过电机带动异形转轮转动，可以使异形转轮对活动板间歇式施加压力，通过在装置的一侧不断的将半成品夹持在传送装置上的夹持板之间。针座有效防止布料与针板底面接触。汕头2.5针座工厂
针座引流管为带有刻度的内空软质柔性引流管。2.5间距针座工厂
晶圆针座是半导体工艺线上的中间测试设备，与测试仪连接后，能自动完成对集成电路及各种晶体管芯电参数和功能的测试。随着对高性能、多功能、高速度、低功耗、小型化、低价格的电子产品的需求日益增长，这就要求在一个芯片中集成更多的功能并进一步缩小尺寸，从而大片径和高效率测试将是今后晶圆针座发展的主要方向。因此，传统的手动针座和半自动针座已经不能满足要求，取而代之的是高速度，高精度，高自动化，高可靠性的全自动晶圆针座。2.5间距针座工厂
