配光曲线分布光度计现货

翊明分布光度计暗室测试距离要求满足GB/T7002-2008：光学测试距离是指灯具光度中心到光度探头表面的距离。光强测试的距离应在可行的范围内遵循平方反比定律。总的来说，测试距离不应小于灯具出光口面比较大尺寸的15倍，但是，对于过灯具长轴的平面上有近似余弦分布的灯具，**短测试距离可以垂直于光源轴的发光面尺寸的15倍或者平行于光源轴的发光面尺寸的5倍。使用的测试距离应取两个距离的较大者。应注意在某种情况下，比如光束非常窄的灯具，即使15倍的测试距离也许仍是不够的，确定方法参见GB/T7002-2008.分布光度计在照明行业的发展中扮演着越来越重要的角色，为行业的繁荣和发展贡献力量。配光曲线分布光度计现货

光强空间分布测试系统是一种专门用于测试光线强度空间分布的设备。该系统通过测量光束在不同空间位置的强度分布，可以提供有关光源空间分布、光学系统成像质量和光束聚焦效果等方面的重要信息。此外，该系统还可以用于测试机器视觉、光学测量、自动化工业等领域。该系统的工作原理是利用特殊的探测器来对光束进行探测和测量，然后通过计算和分析，生成空间光强分布的图像。由于该系统具有高度的自动化和智能化程度，可以适用于各种复杂的测试场景，并且还可以通过数据接口和网络接口与其他测试设备进行联动，实现***、高效的测试和分析。因此，光强空间分布测试系统是一种功能强大、性能稳定的测试设备，为光源的性能评估和研发提供了有力的支持，是现代科学研究和工程领域必不可少的重要工具。广州红外分布光度计品牌分布光度计具有高度的智能化和自动化特点，降低操作难度和人工成本。

翊明光强空间分布测试系统是一种**的测试设备，主要用于测试各种光源的光强空间分布情况。该系统采用了先进的光学技术和高精度的测试仪器，能够快速、准确地对光强空间分布进行测量和分析。该系统具有高度的自动化和智能化程度，可以**提高测试效率和精度，减少了人工干预的误差。该系统具有多种测试方式，包括点状光源的测试、线状光源的测试以及区域状光源的测试等。无论是均匀光源还是不均匀光源，该系统都能够准确地测试其空间分布情况，并且能够进行多种参数的分析和统计，为光源的性能评估和研发提供了有力的支持。使用该系统进行光强空间分布测试，可以得到丰富的测试数据和分析结果，包括光强亮度、光线角度、光线方向等参数，这些数据可以直观地反映出光源的性能和特征。同时，该系统还具有高度的可视化和图形化接口，用户可以直观地查看测试结果，进行数据对比和分析，提高了测试的可靠性和可信性。

翊明卧式分布光度计是一种旋转灯具分布式光度计，共有二个旋转轴，分别是主轴和灯架轴。可实现单立柱或双立柱工作模式。当系统工作于单立柱模式，即实现C-γ测量，垂直轴(主轴)带动灯具旋转从而实现灯具在γ方向的测量，垂直轴是固定的，水平轴（灯架轴）可以移动。根据测试灯具的类型及功率，探测器离开垂直轴线的距离可以自由调节，若垂直轴（γ轴）优先旋转时，系统每隔一定的水平角度（C角）连续测量各个（γ）角度上的光信号。测量轨迹相当于地球径线，若水平轴（C轴）优先旋转时，系统每间隔一定的垂直角度（γ角）连续测量各个C角度的光信号，测量轨迹相当于地球纬线。探测器测量各径、纬线交叉点上的照度值。就得到了灯具的空间光强分布曲线，再计算出所有的灯具光度参数。分布光度计在照明行业的应用，提高了产品质量和竞争力。

光强分布曲线测试是一种测试光学系统光强分布的技术，主要通过测量光在空间中的分布情况，并绘制出相应的曲线图来描述光的强度分布情况。由于光学系统中不同位置的光强度不同，因此对光强分布曲线的测试可以帮助我们更好地了解光在系统中的运动和传递规律。在进行光强分布曲线测试时，通常采用光路干涉法或扫描法。光路干涉法主要使用干涉仪，通过干涉光束得到光强分布情况。而扫描法则通过扫描测量系统的物面或像面，得到光在不同位置的强度分布情况。两种方法各有优劣，选择合适的测试方法应根据测试目的和实验条件来进行选择。高性价比IES测试系统。东莞灯具效率分布光度计检测设备

分布光度计是灯具配光性能测试的主要测量设备,可用来测量灯具的空间光强分布、总光通量和灯具效率等参数。配光曲线分布光度计现货

翊明分布光度计暗室的标准要求：①温度要求：根据CIE70和LM-79的要求，在使用分布式光度计进行测量时，通常是在25°的环境温度下进行的。②杂散光要求：杂散光可以使光强分布测试结果失败，所以推荐在光源和广度探头接收面之间使用挡屏来限制入射的杂散光，但挡屏不能在光束中引起阻隔。光强分布的测试应该在挡屏处在对应位置上时能够复现。此时的测量信号就是直射杂散光的信号，应该将这个量从没有这个挡屏的测试结果中减去。③暗室墙面涂刷要求：通常在给用户设计暗室图纸时，都会指明使用亚光黑的涂料，将房间内所有墙面涂刷好。需要注意的是，房间所有墙面中，**重要的墙面是正对光度探头的墙面，通常也是分布式光度计主机背后的墙面。该处若存在杂散光，将会直接照射到探头中。④暗室尺寸要求：根据LM-79和CIE-70的要求，测试光路长度至少要为被测灯具直径**长尺寸的6倍以上，意味着如果被测灯具的比较大尺寸为1.2米，那么光路的长度至少需要为6米，加上主机和探头预留的位置，整体暗室长度至少要在8米以上。符合规范的暗室环境能够很大程度地保证测试精度。配光曲线分布光度计现货