PCB/PCBA绝缘失效的表征电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下,电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象,这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。什么是PCB/PCBA绝缘失效?PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗,这种损耗很大时,原先的电能转化为热能,使电介质温度升高,绝缘老化,甚至使电介质熔化、烧焦,终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标,电介质即绝缘材料,是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质,通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验。广西sir电阻测试欢迎选购
广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定:使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置,需设置测量电压,因为仪器恒压工作测量漏电流,用欧姆定理计算电阻值。电阻值的测定时间可设定范围是:CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置,单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置,完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104 -1 x1014 Ω,电阻测量精度:1x104 -1x1010Ω≤±2%, 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%广西sir电阻测试欢迎选购SIR是通过测试表面绝缘电阻的方法来监控ECM电化学迁移的发生程度; 通常我们习惯讲的SIR,即为ECM测试;

在进行Sir电阻测试之前,需要准备一台Sir电阻测试仪。这种仪器通常由一个发射器和一个接收器组成。发射器会产生一个电磁场,而接收器会测量电磁场的变化。通过测量电磁场的变化,可以计算出电路中的电阻值。在进行Sir电阻测试时,需要将发射器和接收器分别放置在电路的两个不同位置。发射器会产生一个电磁场,而接收器会测量电磁场的变化。通过测量电磁场的变化,可以计算出电路中的电阻值。通常情况下,电阻值越大,电磁场的变化越小。因此,通过测量电磁场的变化,可以得到电路中的电阻值。
8、在整个测试过程中,建议每24到100个小时需要换用另外的电阻检测器,确保测试电压和偏置电压的极性始终一致。在电阻测量过程中,为了保证测试的准确性,如果观察到周期性的电阻突降,也应该被算作一次失效。因为阳极导电丝是很细的,很容易被破坏掉。当50%的部分已经失效了,测试即可停止。当CAF发生时,电阻偏小,施加到CAF失效两端的电压会下降。当测试网络的阻值接近限流电阻的阻值时,显得尤为明显。所以在整个测试过程中,并不需要调整电压。9、500个小时的偏置电压后(一共596个小时),像之前一样重新进行绝缘电阻的测量。选择智能电阻时,用户需要考虑精度和稳定性。

CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗-钻孔太过粗糙,造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙;2)除胶渣-PCB制程之PTH中的除胶渣过度,或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应,过度的灯芯加上孔与孔相距太近时,可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生CAF效应。授权手机APP可以远程进行相关管理、操作,查看样品监测数据。江苏制造电阻测试发展
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除杂PCB制程中若出现杂质或残铜,清洁处理不当后,将金属盐类残留在板面上。一旦吸潮或分层吸湿,便会形成CAF问题。因此需调整参数避免残铜,同时改进清洗方法并充分清洁。评估CAF的方法:离子迁移评价通常使用梳型电路板为试料,将成对的电极交错连接成梳形图案,在高温高湿的条件下给予一固定之直流电压,经过长时间之测试,并观察线路是否有瞬间短路之现象。针对CAF引起的失效现象,一般采用的方法是逐步缩小范围的方法;失效样品先测试电阻》》用显微镜观察,找出大概失效的位置》》退掉表面的绿油》》再观察具体的位置》》磨切片观察失效发生的原因广西sir电阻测试欢迎选购