一般我们使用这个方法来量测静态的表面绝缘电阻(SIR)与动态的离子迁移现象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿来作 CAF(Conductive Anodic ****ment,导电性细丝物,阳极性玻纤纤维之漏电现象)试验。 注:CAF主要在测试助焊剂对PCB板吸湿性及玻璃纤维表面分离的影响。 表面绝缘电阻(SIR)被***用来评估污染物对组装件可靠度的影响。跟其他方法相比,SIR的优点除了可侦测局部的污染外,也可以测得离子及非离子污染物对印刷电路板(PCB)可靠度的影响,其效果远比其他方法(如清洁度试验、铬酸银试验…等)来的有效及方便。 由于电路板布线越来越密,焊点与焊点也越来越近,所以这项实验也可作为锡膏助焊剂的可用性评估参考。传统的电阻器件在测量电阻时可能存在一定的误差。湖北电阻测试服务电话
从监控的方式看(除阻值监控外):ECM/SIR可以通过放大镜进行直观的判断;而CAF只能通过破坏性的切片进行微观条件下的分析;ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性,而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度,故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试,如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等,以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性;离子迁移既然是绝缘信赖度的***,因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管,因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如:加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管,导致ECM或CAF的生成,便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍;藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度(防焊前处理),这些对绝缘劣化影响很大的项目,可以大幅提升高密度电路板的信赖性。湖北离子迁移绝缘电阻测试厂家供应系统标配≥256通道,可分为16组测试单元,同时测试16种不同样品。

离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从设计方面:越小的距离(孔~孔、线~线、层~层、孔~线间)越易造成离子迁移现象;解决方案:结合制程能力与材料能力,优化设计方案;(当然重点还是必须符合客户要求)玻纤纱束与孔排列的方向;纱束与孔的方向一致时,会造成离子迁移的可能性比较大;解决方案:尽可能避免或减少纱束与孔排列一致的可能性,但此项受客户产品设计的制约;产品的防湿保护设计;解决方案:选择比较好的防湿设计,如涉及海运,建议采用PE袋或铝箔袋包装方式;
表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。离子在单位强度(V/m)电场作用下的移动速度称之为离子迁移率,它是分辨被测离子直径大小的一个重要参数。

离子迁移绝缘电阻测试是一种常用的电子产品质量检测方法。它通过测量材料的离子迁移速率和绝缘电阻值,来评估材料的质量和可靠性。离子迁移是指在电场作用下,材料中的离子在电极之间迁移的现象。离子迁移速率是评估材料质量的重要指标之一,因为离子迁移会导致电子产品的故障和损坏。离子迁移速率越高,材料的质量越差,对电子产品的可靠性影响也越大。绝缘电阻是指材料对电流的阻碍能力。绝缘电阻值越高,材料的绝缘性能越好,对电子产品的保护作用也越强。绝缘电阻测试可以帮助检测材料的绝缘性能,从而评估材料的质量和可靠性。通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。广西pcb离子迁移绝缘电阻测试报价
智能电阻具有更加便捷的操作和数据处理能力。湖北电阻测试服务电话
Sir电阻测试是一种常用的电阻测试方法,它可以用来测量电路中的电阻值。在电子工程领域中,电阻是一种常见的电子元件,它用来限制电流的流动。因此,了解电路中的电阻值对于电子工程师来说非常重要。Sir电阻测试是一种非接触式的测试方法,它利用电磁感应原理来测量电路中的电阻值。这种测试方法不需要直接接触电路,因此可以避免对电路的损坏。同时,Sir电阻测试还具有高精度和高速度的优点,可以更加快速准确地测量电路中的电阻值。湖北电阻测试服务电话