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实验室分析仪基本参数
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对于粒径分布范围很宽的样品,通过可选的速度调节功能圆盘,只需常规圆盘分析时间的1/20。经过CPS纳米粒度仪对裂解后炭黑进行粒径测试后的结果所示:与扫描电镜所显示的结果基本一致,裂解后的炭黑较小粒径为3um,较大可至50多微米,并且出现很多峰值,证明样液中具有不同粒径且含量不同的的炭黑。峰值粒径处于30um左右。真实反映了不同炭黑粒径的分布状态。随着半导体工业飞速发展,电子器件尺寸缩小,要求晶片表面平整度达到纳米级。作为芯片制造不可或缺的一环,CMP工艺在设备和材料领域历来是受欢迎的。驰光机电倾城服务,确保质量无后顾之忧。海南高纯度氧化铝粉粒度在线分析仪

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C-Quand在线EDXRF分析仪在PTA工艺中的应用,产品综述:精对苯二甲酸,英文名简称为PTA,它是聚酯生产链的重要组成部分,是中国重要的化工原料。PTA可用于生产聚酯,合成纤维和增塑剂等,它们大量用于工业塑料,薄膜,涂料和其他领域。作为纺织化纤和石油化工两大行业的重要中间体,PTA起着重要的承上启下作用。测量的必要性:通过添加醋酸钴和醋酸锰以及四溴乙烷催化剂,对二甲苯氧化可以制取苯二甲酸(TA)。如果能够对催化剂元素含量(钴、锰和溴Br)进行连续在线分析,可以更好地控制工艺海南高纯度氧化铝粉粒度在线分析仪驰光机电科技与广大客户携手共创碧水蓝天。

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技术优势:CPS系统优良性能的基础是它先进的示差沉降技术。高转速:CPS可以支持的较高转速为24,000转/分。对于超细颗粒,其分析速度比其它产品快倍。使用速度调节技术,可以对粒度分布范围较广的样品进行分析。对于在其它分析仪上很多非常耗时(数小时或更长)的样品,CPS可以快速得到结果。高精度标定:CPS系统使用已知的标定颗粒进行标定,与美国国家标准和技术研究院(NIST)相兼容的标准保证了分析结果的一致性和精确度。使用内标法,也即把已知标定颗粒与待分析样品相混合,所得的峰值结果可以达到±0.25%的精度。

研磨液中的化学成分与硅片表面材料产生化学反应,将不溶的物质转化为易溶物质,或者将硬度高的物质进行软化,然后通过磨粒的微机械摩擦作用将这些化学反应物从硅片表面去除,溶入流动的液体中带走,即在化学去膜和机械去膜的交替过程中实现平坦化的目的。其反应分为两个过程:化学过程:研磨液中的化学品和硅片表面发生化学反应,生成比较容易去除的物质;物理过程:研磨液中的磨粒和硅片表面材料发生机械物理摩擦,去除化学反应生成的物质。驰光机电科技以优先,优良的产品,满足广大新老用户的需求。

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光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。算法:采用除符合GB/T19627-2005/IS013321:1996标准的累积法外,还有R-R算法,可以算出纳米粒子样品的D50、D10及D90,并给出分布曲线。高灵敏度与信噪比:探测器采用专业级进口光电倍增管(PMT),对光子信号具有较高的灵敏度和信噪。纳米粒度仪分辨能力:中心部件采用CR-70-1-245数字相关器,具有识别5ns的光子脉冲分辨率。运算功能:采用高速数字相关器CR-70-1-245有245个通道进行数据采集与实时相关运算。稳定的光路系统:采用635nmLD激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统。驰光机电科技愿与各界朋友携手共进,共创未来!安徽CPS高精度纳米粒度分析仪哪家好

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CPS分析仪基本原理:CPS纳米粒度分析仪依据Stokes定律,V=D²(ρP-ρF)G/18η,即颗粒沉降的速度与颗粒的尺寸平方成正比来进行粒度的测量。待测样品从圆盘中心进入高速旋转的圆盘,在离心力的作用下发生沉降,沉降的速度遵循Stokes公式,在距离圆盘的边缘固定位置设有激光检测器,颗粒按尺寸大小依次通过探测器,仪器记录颗粒通过探测器的时间,由于所有颗粒走过的路程都一样,因此,颗粒运动所需的时间与颗粒本身尺寸的平方成反比,激光检测器同时检测颗粒对光的散射程度。海南高纯度氧化铝粉粒度在线分析仪

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特别是在涉及危险化学品、高温、高压等实验条件下,应严格按照操作规程进行。防止交叉污染:在实验过程中,操作人员应采取措施防止交叉污染,如使用适当的试剂瓶、容器和移液器,避免不同试剂之间的交叉污染。注意观察和记录异常情况:操作人员在实验过程中应注意观察仪器和实验条件的变化,如发现异常情况应及时停止实验,采取必要措施并记录。仪器的维护与保养,定期维护与保养:操作人员应定期对仪器进行维护与保养,包括清洁仪器表面、检查仪器附件是否完好、更换消耗品等。确保仪器保持良好的工作状态和准确性。我们愿与您共同努力,共担风雨,合作共赢。辽宁纳米粒度分析仪报价以下是实验室分析仪的一些常见故障及排除方法:仪器无法启动,...

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