影像测量仪基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • 徕卡
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
影像测量仪企业商机

影像测头在二维尺寸测量上具备无可比拟的速度优势,但影像测头也有其不擅长的地方,在三维测量中,测量效率不够高、工件侧面特征无法测量等。由此就出现了多测头集成的需求,综合使用影像测头、接触式测头、激光测头和白光测头等,可针对不同的工件及不同的测量需求,选择合适的测量方式,以便提供比较好的测量精度以及比较好的测量效率。在二维尺寸的大批量检测时,可使用影像测头;在测量复杂工件侧壁,而对效率要求又不高的情况下,可选择接触式测量:在复杂工件的三维测量中,如果对效率要求很高,可使用白光测头或激光测头。茂鑫供应影像测量仪XYZ三轴测量-自动对焦-精度高。漳州Nikon影像测量仪

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    影像测量仪是一种新兴的精密几何量测量仪器。随着技术的发展,已经成为精密几何量测量中常用的测量仪器之一。影像测量仪利用影像测头采集工件的影像,通过数位图像处理技术提取各种复杂形状工件表面的座标点,再利用座标变换和资料处理技术转换成座标测量空间中的各种几何要素,从而计算得到被测工件的实际尺寸、形状和相互位置关系。经过不断的发展,影像测量仪的应用范围不断扩大,可以对各种复杂的工件轮廓和表面形状进行精密测量。现在,影像测量仪的测量物件包括电子零配件、精密模具、冲压件、PCB板、螺纹、齿轮、成形刀具等各类工件,逐渐进入到电子、机械、仪表、钟表、轻工、、航太航空等行业,成为高等院校、研究所、计量技术机构的实验室、计量室以及生产车间常用的精密测量仪器。如今,我们主要讨论的是影像测量仪在模具行业的应用。

影像测量仪的计量特性和评定方法:根据影像测量仪的工作原理和影像探头的误差特点,中国计量科学研究院参照德国标准起草的《光学探头坐标测量机校准规范》,对影像探头规定了多点测量的探测误差、成像歧变的探测误差和照明影响的探测误差。与接触式坐标测量机一样,影像测量仪也需要评定长度测量示值误差。所谓多点测量的探测误差与接触探头坐标测量机的探测误差比较接近:标准圆图形上通过多次局部采样,获得标准圆的信息,组合计算圆的参数,反映了影像系统采样各向异性引人的误差、坐标测量机运动误差等。上海茂鑫影像测量仪可支持一机编程多机使用。

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    影像测量仪的特点:影像测量仪,通过捕捉工件表面影像的边缘,进行图像处理,获得影像几何要素的数据。影像特征点在测头坐标系中的坐标(x',y')与探头参考点在坐标测量机基础坐标系中的坐标(x",y")合成,构成被测点坐标(X,Y)。作为光学成像探头,成像光路质量、成像器件的质量、照明的强度、照明的均匀性、被测物体的颜色和、质地、阈值的大小、灰尘的影响等,均会对测量结果造成影响。成像光路质量,指受影像探头采用的光学镜头、镜头安装系统等影响下的成像质量。这些影响通常会引起枕形歧变或桶形歧变,梯形歧变,成像锐度下降等问题。图片当照明强度变化时,由于阈值保持不变,信号边沿的变化影响测量结果(图4a),而成像锐度的变化,也会使测量结果不同。 上海茂鑫提供高性能影像测量仪供您选择。全自动影像测量仪推荐

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    影像测量仪的测量误差是指影像测量仪本身所固有的误差。造成仪器的误差是多方面的,在仪器的设计、制造和使用的各个阶段都可能产生误差,分别称为测量仪的原理误差、制造误差、运行误差。3、运行误差属于影像测量仪运行误差的是:测量环境和条件变化引起的误差(如温度变化、电压波动、照明条件变化、机构磨损等),以及动态误差。由于温度的改变,使得影像测量仪的零部件尺寸、形状、相互位置关系以及一些重要的特性参数发生变化,从而影响这台仪器的精度。温度的变化还可能引起电器参数的改变以及仪器特性的改变,引起温度灵敏度漂移和温度零点漂移。电压及照明条件的变化会影响到影像测量仪的上,下光源灯的亮度,造成系统光照不均从而使得在采集图像边缘留下阴影造成的图像边缘提取误差。磨损使影像测量仪的零件产生尺寸、形状、位置误差,配合间隙增加,降低此仪器的工作精度的稳定性。因此,测量运行条件的改善可以有效地减少此类误差的影响。 漳州Nikon影像测量仪

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