天津CPS高精度纳米粒度分析仪厂家

测量低密度颗粒：示差沉降法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度的颗粒，CPS开发了一项新的技术技术(US Patent5,786,898)。很多用常规示差沉降法很难或者不可能分析的材料(例如油乳液、蜡乳液、粘性乳液或脂质体)，现在可以方便地使用CPS进行分析，而且精度很高。速度调节：CPS开发了一种特殊的圆盘设计使得在分析过程中可以调节圆盘的转速，而不会对沉降液体产生扰动，转速可以在20倍范围内升高或者降低，这样一来就使得分析的动态范围几乎增大了20倍。公司生产工艺得到了长足的发展，优良的品质使我们的产品销往全国各地。天津CPS高精度纳米粒度分析仪厂家

为了实现较佳过程控制，样品测量时间为5分钟左右。催化剂浓度通常在40至1000ppm范围内。C-Quand在线XRF分析仪是一款真正的过程分析仪，专为化工厂的恶劣环境而设计。分析仪配置和操作简单。它配有模拟和串行数据传输协议。C-Quand在线 XRF分析仪可以连续测量多达四个流路，每个流都有自己的校准曲线。此外，C-Quand在线XRF分析仪有各种方法来检查和确保可靠的数据。每小时分析一次内置的固体参考。有了这个内置的自动参考，您将能够在一年内实现无漂移过程测量。陕西高精度纳米粒度分析仪哪家好驰光机电产品适用范围广，产品规格齐全，欢迎咨询。

CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展，电子器件尺寸缩小，要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分，其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分重要。CMP过程中使用的磨料颗粒典型尺寸范围是10-200nm，其颗粒表征要求精确地确定纳米级颗粒的尺寸，因此高分辨率纳米粒度分析仪是磨料颗粒表征的完美解决方案。磨料对CMP工艺起着至关重要的作用！欢迎选用CPS纳米粒度分析仪为您完美解决磨料颗粒问题！

升降台式样品池送进定位及环境光遮蔽系统，使光子相关谱探测系统不只体积小，而且具有很强的抗干扰能力。高精度的测试温度控制系统：单独的循环温控槽可在2-95℃范围内任意设定，其控制精度达0.1℃。微量样品池/标准样品池：可以使用3.5ML的标准样品池外，还有适应于稀有贵重样品的0.3ML微样池。环境温度：在5-35℃的环境中，本仪器都能正常使用。纳米粒度仪样品池恒温箱及恒温DI水供应系统：有利于提高测试温度控制精度同时减少等待样品池热平衡的时间，提高仪器的实际测试精度和工作效率。驰光机电科技有限公司品牌价值不断提升。

对于粒径分布范围很宽的样品，通过可选的速度调节功能圆盘，只需常规圆盘分析时间的1/20。经过CPS纳米粒度仪对裂解后炭黑进行粒径测试后的结果所示：与扫描电镜所显示的结果基本一致，裂解后的炭黑较小粒径为3um，较大可至50多微米，并且出现很多峰值，证明样液中具有不同粒径且含量不同的的炭黑。峰值粒径处于30um左右。真实反映了不同炭黑粒径的分布状态。随着半导体工业飞速发展，电子器件尺寸缩小，要求晶片表面平整度达到纳米级。作为芯片制造不可或缺的一环，CMP工艺在设备和材料领域历来是受欢迎的。驰光机电科技有限公司始终以适应和促进工业发展为宗旨。天津CPS高精度纳米粒度分析仪厂家

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CPS纳米粒度仪测量金刚石的粒径：金刚石微粉是指颗粒度细于36/54微米的金刚石颗粒，金刚石微粉硬度高、耐磨性好。大量用于机械、航天、光学仪器、玻璃、陶瓷、电子、石油、地质、工业部门，用于制作PCD(聚晶金刚石)、 PDC(金刚石复合片)、陶瓷结合剂、金属结合剂、电镀产品；制作拉丝模、电镀磨具，陶瓷、金属结合剂磨具等；制造金刚石树脂结合剂弹性磨块等；用于精密机械、光学玻璃、精细陶瓷、宝石及半导体等产品的研磨抛光。CPS纳米粒度分析仪测量金刚石微粉的粒径。天津CPS高精度纳米粒度分析仪厂家

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