克劳德高速数字信号测试实验室眼图测试其他概念编辑播报消光比消光比(ExtinctionRatio)定义为眼图中“1”电平与“0”电平的统计平均的比值,其计算公式可以是如下的三种:消光比在光通信发射源的量测上是相当重要的参数,它的大小决定了通信信号的品质。消光比越大,象征在接收机端会有越好的逻辑鉴别率;消光比越小,表示信号较易受到干扰,系统误码率会上升。消光比直接影响光接收机的灵敏度,从提高接收机灵敏度的角度希望消光比尽可能大,有利于减少功率代价。但是,消光比也不是越大越好,如果消光比太大会使激光器的图案相关抖动增加。因此,一般的对于FP/DFB直调激光器要求消光比不小于,EML电吸收激光器消光比不小于10dB。一般建议实际消光比与比较低要求消光比大。这不是一个完全的数值,之所以给出这么一个数值是害怕消光比太高了,传输以后信号劣化太厉害,导致误码产生或通道代价超标。眼图的测试现场方法测试找克劳德高速数字信号测试实验室。眼图测试推荐货源
DDR眼图测试1-5
,对于物理层无论是仿真还是一致性测试软件得到的数据,都可以通过数据分析工具 N8844A 导入到云端,通过可视化工具,生成统计分析表格,对比性分析高低温、高低电压等极端情况下不同的测试结果,比较不同被测件异同。为开发测试部门提供灵活和有效的大数据分析平台。
除了在物理层信号质量和基本时序参数之外,DDR 总线的状态机复杂时序特性,以及总线的命令操作解析需要通过逻辑分析仪辅助分析。是德科技的U4164A 逻辑分析仪,同步分析速率可以达到 4Gbps,采样窗口可以低至 100mv x 100ps,单路采集样本高达 400M,对于 DDR4 的测试是非常合适的,另外配合 B4661A memory 分析软件,可以解析 DDR4 会话操作,实现 DDR4 总线的命令解码,解析 MRS,命令,行列地址,并可以直接触发物理地址捕获特定信号,利用深存储的大量样本,可以对DDR 总线的性能进行分析,包括统计内存总线有效吞吐速率,统计各种命令操作以及总线利用率,分析对不同内存地址空间的访问效率。另外利用是德科技独有的逻辑分析仪内部眼图扫描功能,可以同时分析扫描总线各个比特位的眼图质量。 江西眼图测试产品介绍基于眼图测试的USB接口链路故障定位方法?
(2)波形需要以时钟为基准进行叠加:眼图是对多个波形或比特的叠加,但这个叠加不是任意的,通常要以时钟为基准。对于很多并行总线来说,由于大部分都有专门的时钟传输通道,所以通常会以时钟通道为触发,对数据信号的波形进行叠加形成眼图,一般的示波器都具备这个功能。而对于很多高速的串行总线信号来说,由于时钟信号嵌入在数据流中,所以需要测量设备有相应的时钟恢复功能(可能是硬件的也可能是软件的)能够先从数据流中提取时钟,然后以这个时钟为基准对数据比特进行叠加才能形成眼图。因此,很多高速串行数字信号的眼图测试通常需要该示波器或测量设备有相应的时钟恢复功能。
新的眼图生成方法解决了触发抖动问题,处理UI多,因此速度也快。2.1.2.1.数据边沿的提取数据边沿的提取获取捕获数据的最大值为Max,最小值为Min,设置Threshold=0.5*(Max+Min),当采样点电压值穿过Threshold时,记录下时间为Edgetime_initial[i],这将是后面进行理想时钟恢复的依据。在进行数据边沿的提取时,需要注意的是,由于采样率有限制当码元速率较高时,单个码元对应的采样点个数较少会使得求出的Edgetime_initial值误差较大,这时候就需要在Threshold附近进行插值。数据边沿的提取与边沿触发的原理较为相似,对于Threshold附近噪声干扰的处理方法可以参照触发的实现方式。触发粘滞比较处理如下图所示,将比较器输出高低电平比较信号,经过运算处理为1个比较信号。粘滞比较器的总的规则是信号大于高电平比较为高,小于低电平比较为低,否则保持不变。
2.1.2.2.时钟恢复时钟恢复是眼图抖动生成的关键。下图为一个简单的时钟数据恢复CDR(ClockDataRecovery)电路示意图。时钟数据恢复电路主要完成两个工作,一个是时钟恢复,一个是数据重定时,也就是数据恢复。 产品测试眼图系统参数?
当眼图形成以后,我们已经可以根据眼图的张开程度大概了解信号质量的情况,但更进一步的分析就需要对眼图的参数进行精确测量,常用的测量参数有眼高(Eye Height)、眼宽(Eye Width)、眼的抖动(交叉点处的Jitter)等。
1.眼高的测量
眼高反映的是眼图的垂直方向张开的程度。其测量方法是先在眼图的中心位置对眼图的电平分布进行统计,根据直方图分布出现概率的位置得到高电平和低电平的位置;然后再根据高低电平上的噪声分布情况各向内推3个西格玛,从而的到眼高的测量结果。 一种眼图测试方法和眼图测试系统?智能化多端口矩阵测试眼图测试产品介绍
构建眼图和进行眼图模板测试的方法?眼图测试推荐货源
原理描述1.眼图的形成对于数字信号,其高电平与低电平的变化可以有多种序列组合。以3个bit为例,有000~111共8种组合。在时域上将足够多的上述序列按某一个基准点对齐,然后将其波形叠加起来,就形成了眼图。2.传统眼图生成方法传统眼图生成方法原理简单,很适合理解眼图生成机制传统的眼图生成方法简单描述就是“每次触发叠加一个UI”。方法简单,但效果并不理想。由于屏幕上的每个UI信号波形通过触发点对齐,眼图通过对信号多次触发采集后叠加生成。这样会导致仪器触发电路的抖动成分将被引入到眼图测量中。导致了测量不精确。3新的眼图生成方法新的眼图方法描述为“同步切割+叠加显示”。示波器首先捕获一组连续比特位的信号,然后用软件PLL方法恢复出时钟,利用恢复出的时钟和捕获到的信号按比特位切割,切割一次,叠加一次,将捕获到的一组数据的每个比特位都叠加到了眼图上。 眼图测试推荐货源
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图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加的波形或比特数量越多,则眼的张开程度会越小,就越能测到恶劣的情况,但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后,形成的不只是一个眼图,而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够,这些眼图都是很相似的,因此可以对其中任何一个眼图进行测量。下图显示的是叠加形成...