1. 读数显微镜；2.玻璃刻线尺；3.反光棱镜；4.工作台测量轴和尾管的同轴度不超过。【万能测长仪检定方法】将直径为φ8mm的用平面测帽安装在测量轴和尾管的测量杆上，移动测量轴，使两测帽相接触，借助尾管测量杆的径向调整螺钉，将两测帽的测量面调至平行。然后万能测长仪用千分尺测量两测帽的偏移程度。尾管测量杆径向调整机构的不稳定性调整的不稳定性不超过。【万能测长仪检定方法】在测量轴和尾管的测量杆上，安装φ8mm的平面测帽。移动测量轴，使两平面测帽相接触，转动尾管测量杆的一个径向调整螺钉，在读数装置中找到小值，再转动另一个径向调整螺钉，同样找到小值，反复转动这两个螺钉，当稳定后，分别测得两螺钉在正、反向转动时的小值。万能测长仪再转动两螺钉，当改变其位置后，重新按上述方法进行调整找到小值。这一调整工作至少进行三次，所有小值之差应不超过。万能测长仪从测量杆上取下平面测帽，安装球面测帽后，按上述方法再进行检定。上海测长机批发推荐上海野齿仪器科技公司。杭州便捷测长机报价
【检定方法】借助手轮，转动微米分划板，使微米刻线与指标线相靠并留有适当光隙，这时可观察两刻线间是否有倾斜。在目镜左右(或上下)两边观察示值有无变化。这一检定，应在均匀分布于微米分划板的四个位置上进行。移动测量轴，使毫米刻度尺的刻线与任一螺旋线(或双线)相对准后，在目镜上下(或左右)两边观察示值是否变化，并观察毫米刻度尺的刻线是否对称于。这一检定应至少在分布于毫米刻度尺的3～5个不同位置上进行。(9)mm刻度尺与微米分划板的相对位置【要求】不超过。【检定方法】移动测量轴，使毫米刻度尺的任一条刻线与，并从微米刻度上读出相对于零位的偏移量。(10)读数装置放大倍数的正确性【要求】不超过。对于使用中的进口测长仪，应检定其读数装置与毫米刻度尺的相符性，要求不超过。【检定方法】读数装置放大倍数的正确性，用尺寸为1mm,2mm和3mm的3等量块以“配对法”检定。精度高测长机上海野齿仪器科技公司的测长机系列有精度高、操作快、方便快捷。
测帽的调整：球形测帽、刃形测帽、平面测帽都可用下述方法进行调整：一对测帽分别装在尾管和测头上，并使两测帽互相接触，与此同时在投影窗里看到微米分划板的像，调节尾管十字方向驻螺中的一对测帽分别装在尾管和测头上，并使两测帽互相接触，与此同时在投影窗里看到微米分划板的一个，使像自左向右或自右向左移动，并在某一个位置改变其运动方向，于是将驻螺钉停留在这个通常所谓“转折点”的地方，用同样方法调节驻螺中另一螺钉，通过上述调整，测帽在水平和垂直方向彼此平行就可以了。仪器零位的调整：1、粗定位将头架组移至100mm金属分划尺的零刻线处，将尾架组移至900mm金属分划尺的零刻线处，应使《分米尺》的标记落在毫米投影窗居中位置。2、套线转动锁紧手轮，将头架组锁紧在测微杆上，再转动微动手轮，进行套线瞄准。3、微米对零松开十字胶木旋扭，粗动尾管，让其与测量头良好接触，再用旋扭将尾架固定，旋动微动螺丝，让微米分划板的零刻线瞄准指标线(虚线)，调整测帽，使两个测帽在水平和垂直方向彼此平行，再旋动螺线让微米分划板的零刻线瞄准指标线(虚线)。
测量时，安装工件要牢固，并使其处于适当位置，将左端测头移动到接触工件距离以外，并锁紧测量轴的紧固螺钉，避免升降工件造成撞击而使测量不准确，旋转升降手轮，使工作台升降达到恰当位置，并锁紧，然后慢松开左端测头使其轻轻的接触到工件的表面，旋转前后调节手柄使工作台前后移动，在微分筒中观察使其调节到拐点（最大值），扭动水平扳手，使微分筒中的刻线处于拐点处（最小值），然后调节工作台的上下看是否有锥度，若有锥度记录下来（如果是测量沟径取其拐点，最小值），调节工作台到达测高位置，多重复上述步骤，使其被测的工件在微分筒内的观测读数不会发生改变为止，锁紧各个锁紧螺母或紧固螺钉，并记录此数据，此时的读数就是了。测长机的好处都有精度高、操作快、方便快捷。
万能测长仪换上大测量钩后，以孔径为φ30 mm的环规对准仪器作为起始点，用孔径为φ50 mm和φ90 mm的环规检定示值误差，方法同上。万能测长仪电眼装置的示值变动性【要求】不超过0.3um。【万能测长仪检定方法】用一块尺寸不小于10 mm的量块，固定在绝缘工作台上。万能测长仪将装有电眼测量头的支架安装在测量轴上。万能测长仪移动测量轴，使测量头与量块工作面接触，读取仪器上的读数(取4次对准的平均值）。万能测长仪往返移动测量10次，使测量头依次与量块工作面接触，并读取仪器的读数。10次读数中的比较大值与小值之差即为示值变动性。测长机的精度高、操作快、方便快捷特点成为了测长机的主要卖点。上海UCK500测长机生产厂家
测长机的优点有很多。杭州便捷测长机报价
光学测长机在设计上违背阿贝原则,它是如何补偿所产生的阿贝误差呢?当尾座沿基座导轨运动时，由于导轨存在直线度误差，使尾座发生角偏摆，尾座测头前倾，造成测量误差ΔL。此时，尾座下方的成像光路也发生角偏摆，致使分米尺在测量座毫米尺上的成像位置产生位移ΔLʹ。由于测量端到分米尺的高度H与分米尺成像系统焦距fʹ相等，因此，ΔLʹ和ΔL的决对值几乎相等，符号相反，可以相互抵消，违反阿贝原则所造成的误差得到补偿。光学测长机是一种应用艾伯斯坦原理，使误差互相抵消的成功范例杭州便捷测长机报价
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