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原位加载系统基本参数
  • 品牌
  • Psylotech
  • 型号
  • μTS,xTS
原位加载系统企业商机

uTS原位加载系统:光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。光学显微镜受可见光波长限制分辨率只能达到250nm,由于DIC技术具有强大图像处理能力可以准确实现0.1像素位移测量,因此uTS显微测试系统的分辨率可达到25nm。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移,高分辨率位移场需要高放大倍数显微镜,意味着景深很小,几微米的离面位移就会造成显微镜失焦。uTS显微测试系统针对离面位移有特殊的设计,有效地控制了离面位移对实验结果影响。与原位加载附件配合后,就可实现材料动态破坏过程细观结构的原位观察技术。显微镜原位加载系统销售公司

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加速电压会对扫描电镜的观测造成哪些影响呢?扫描电镜激发试样的能量主要取决于入射束的加速电压,当高能量的电子束入射到同一试样中时,入射电子束与试样相互作用区范围的大小随加速电压的升高而增大;在同一加速电压下,随试样组分密度的增大而减小。电镜图像的反差通常也会随加速电压的升高而增大,图像的表面细节也会随加速电压的增高而减少。在实际工作中要采集到一幅好照片,除了要有好的仪器设备之外,选择合适的加速电压值也是很重要的一步。选择高、低不同的加速电压各有不同的优缺点,通常应根据试样的组分和分析目的的不同来考虑,即金属试样一般会选择较高的加速电压,轻元素组成的试样一般会选择较低的加速电压。显微镜原位加载系统销售公司基于新的显微观测技术的原位加载技术在材料力学性能研究中也有采用。

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SEM原位加载设备的基本构造和成像原理:组成部件:电子设备、电子透镜、扫描系统、电子收集系统(形貌分析)、成像荧光屏、X射线接收系统。由电子设备发出的电子束在电场的作用下加速,经过三个透镜聚焦成直径为5nm或更细的电子束。该电子束在样品表面进行逐行扫描,激发样品产生出各种物理信号。信号探测器收集这些并按顺序、成比例地转换为视频信号。通过对其中某种信号的捡测,视频放大和信号处理,之后在显示屏上获得能反映样品表面特征的扫描图象。

扫描电子显微镜工作原理:光栅扫描,逐点成像:电子设备发射电子束,电压加速、磁透镜系统汇聚,形成直径约5nm的电子束。电子束在偏转线圈的作用下,在样品上做光栅状扫描,激发多种电子信号。探测器收集电子信号,经过电信号放大器加以放大处理,在显示系统上成像。二次电子的图像信号动态地形成三维图像。组成部分:电子光学系统:组成:电子设备、电磁透镜、扫描线圈和样品室等部件。作用:获得扫描电子束、作为产生物理信号的激发源。近年来原位加载扫描电镜技术及其相关的新技术在材料细观损伤力学研究中的应用。

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原位加载扫描电镜的扩展技术:在研究中也发现,由于光学金相显微景深的限制,铸造奥氏体不锈钢的形变发生到一定程度后,在光学显微镜下看,还不等拉伸裂纹出现,试样的表面就变得模糊不清,铁素体相和奥氏体相难以区分,尤其是形变量大的区域,看上去漆黑一团。因此,对形变量较大的铸造奥氏体不锈钢的断裂裂纹的萌生与扩展情况,适于采用景深较大的原位拉伸扫描电镜进行观测。体视学显微镜由于其独特的光路设计,能产生正立的具有立体感的三维空间像,具有较大的景深和放大倍数,成像清晰。SEM加载腔的有限尺寸使得原位拉伸台必须通过精密的加工工艺材料生产与组装。云南Psylotech原位加载试验机销售公司

设计了可用于基于SEM微观形貌分析、EBSD晶粒取向分析的原位加载装置。显微镜原位加载系统销售公司

原位加载扫描电镜的扩展技术:扫描电镜原位加载技术是观测材料在拉伸作用下断裂破坏行为很方便、直观的观测设备,但是,该技术也存在一定的缺陷,如:由于SEM的成本太高,实验系统难以大量普及;SEM加载腔的有限尺寸使得原位拉伸台必须通过精密的加工工艺材料生产与组装,又进一步提高了实验装置的成本;加载腔的尺寸限制还增大了集成多种加载装置的困难,难以对高延伸率的样品进行观测,更难以实现对材料在不同温度载荷作用下细观损伤破坏过程的研究;此外,SEM的观测往往还需对样品进行喷金处理,观测过程要抽真空,使得高感度的危险材料、含水材料、含易挥发物质的材料等的观测形成了困难。显微镜原位加载系统销售公司

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