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SPM5000高精度快速光谱仪测试系统满足一般显色指数Ra的测量，光源的显色性是指在一定的条件下，光源对物体的色表与其在基准照明体下的色表的比较效果。一般显色指数Ra通过CIE颜色测试样本的八个特殊显色指数进行算数平均值得到。太阳光的显色指数定义为100，白炽灯或卤素光源的显色指数非常接近日光，因此被视为理想的基准光源。在光学测量之中，我们常把A(2856K)类光源作为基准光源，定义其显色指数Ra=100，通过光谱仪测量，就能得到被测光源的显色指数Ra。显色指数我们希望越大越好，数值越接近100，说明光源的显色性越好。在GB40070-2021儿童青少年学习用品近视防控卫生要求中明确了Ra不应小于80的要求。特殊显色指数R9是对饱和红色样的显色能力，因LED产品普遍缺乏红光成分，业内一般将R9作为一般显色指数Ra的重要补充，用于描述光源对饱和红色的还原能力，在GB40070-2021儿童青少年学习用品近视防控卫生要求中明确了R9>0的要求。在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体一般显色指数Ra，R9参数。SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出光谱功率分布(SPD)(*.txt)格式。上海光谱仪推荐咨询

SPM-5000高精度快速光谱仪的技术特点:1、采用独特的杂散光控制技术，宽动态线性技术来实现实验室测量精度水平，精度溯源至中国国家计量院(NIM)和NIST标准。2、多点阵带电子快门CCD，灵敏度高，动态范围宽。3、凹面平场光栅，效率高，杂散光低。4、客户可自行进行系统校准和验证，无需将系统返厂校准。5、毫秒级快速采集数据，实时显示。6、多图形显示参数，直观便于理解。7、带辅助灯修正设计，对待测灯对光的吸收进行修正，保证测量准确度。8、采用世界先进的具有平场校正功能的全息光栅，精密光学系统和电子控制技术。成都光谱仪稳定可靠SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足色温与流明值的测量。

SPM-5000高精度快速光谱仪用于分析光束的光谱组成。结合光学探针和校准可组成一个测量仪器，即光谱仪。搭配适合的软件和其他配件，光谱仪提供可以解决光度测量任务的解决方案。应用范围包括：成熟的 LED 或显示屏制造商对质量的把控，到开发全新的照明、LED、激光器、汽车和显示屏产品。光谱仪的重要部件是衍射光栅，它负责将待分析光束分割成光谱分量，然后投射到探测器上。这样便可以评估单个波长的能源等级。探测器阵列会同时采集整个光谱，因此测量时间极短，可达毫秒级。阵列光谱仪功能多样，所以***用于实验室中。此外，阵列光谱仪坚固耐用，光通量高，非常适合在工业应用中进行光测量，例如，用于生产单个LED和各种类型的显示屏。

SPM-5000高精度快速光谱仪在LED检测中的优势：光谱范围：可见光范围380nm-780nm，因此通常光谱仪器的选择需要覆盖此光谱范围，然后再考虑分辨率、响应速度、信噪比及动态范围等参数。合适的光谱范围有利于软件的数据分析，同时也可以增加响应速度。测量速度：在测量LED的过程中，由于LED芯片的量子特性，在一定的温度条件下，他的输出能量、色温、色坐标及光谱特性在不断变化，即LED的特性每一刻都在变化，CCD光谱仪通常可以实现毫秒级的测量。使用CCD光谱仪测量时，由于扫描速度快，因此在若干秒内可以实现多次测量，同时还可以显示出测量过程中光源特性的变化。重复性：采用CCD光谱仪是使用线阵探测器，同时得到全部的光谱线，没有运动部件，因此不存在重复性的问题，可靠性更高。分辨率：CCD光谱仪通常采用单片光栅分光，根据光谱范围需要来确定光栅形式，因此光谱范围不如扫描式宽，光谱分辨率根据需要调整狭缝宽度获得，通常分辨率不如扫描式高。对于灯具测量来说，高分辨率对光源的特性分析没有任何意义。CCD光谱仪采用合适的分辨率可以提高信噪比，明显增加测量准确性和测量速度，所以更有实际意义。SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足全色域指数GAI显色评价方法的测量。

SPM-5000高精度快速光谱仪组成的光色电分析系统+GMS系列分布光度计(配光曲线测试)系统+LFM5000光源频闪测试系统可用于校园教室教育照明检测。GB40070-2021儿童青少年学习用品近视防控卫生要求的标准要求。1、SPM5000系列光色分析系统：光效，相关色温，一般显色指数，R9，照明设备功率，功率因数和谐波含量值。2、GMS系列分布光度计(配光曲线测试)系统：照明灯具效率，照度值，功率密度值(灯具概率曲线)，UGR，光束角，亮度限值曲线。3、LFM5000光源频闪测试系统：光源波动深度。SPM-5000高精度快速光谱仪实验室测量精度溯源至中国国家计量院(NIM)和NIST标准。厦门光谱仪商品价格

SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出IES TM-27 2014(*.spdx)格式。上海光谱仪推荐咨询

SPM5000高精度快速光谱仪测试系统满足LED主波长，峰值波长，谱线半宽度的测量。WLP（峰值波长）：光谱发光强度或辐射功率比较大处所对应的波长。它是一种纯粹的物理量，一般应用于波形比较对称的单色光的检测。WLD（主波长）：眼睛能看到光源发出的主要光的颜色所对应的波长为主波长；在CIE1931马蹄形坐标中，从E点（0.33，0.33）象被测物体做延长线与马蹄形曲线有交点对应的波长。谱线半宽度（half width of line spectrum），光谱线的半值宽度，是指两半峰位置间的波长差，即半谱宽度。 在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体主波长，峰值波长，半宽度参数。上海光谱仪推荐咨询

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